Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
gyvez (77 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (77)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (61)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (12)
- Molto buono o Buono (4)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (1)
- Copia autograf. (1)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (26)
- Non Print on Demand (57)
Lingua (1)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Integrated Circuit Manufacturability
Lingua: Inglese
Editore: Standard Publishers Distributors, 2000
ISBN 10: 8186308733 ISBN 13: 9788186308738
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 8,38
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 316.
-
Integrated Circuit Manufacturability
Lingua: Inglese
Editore: Standard Publishers Distributors, 2000
ISBN 10: 8186308733 ISBN 13: 9788186308738
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 316 Index 1st Indian Edition.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Libro 18 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Patrico Books, Apollo Beach, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
hardcover. Condizione: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
-
Integrated Circuit Manufacturability
Lingua: Inglese
Editore: Standard Publishers Distributors, 2000
ISBN 10: 8186308733 ISBN 13: 9788186308738
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 8,63
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 316.
-
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Libro 18 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
-
EUR 32,74
Spedizione EUR 15,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,900grams, ISBN:9780780334472.
-
Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,35
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Copia autografata
Condizione: Very Good. Signed by author on title page. Text block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without highlights or underlining. Well packaged and promptly shipped from California. Partnered with Friends of the Library since 2010.
-
Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity Theory And Computational Models
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,42
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,42
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,41
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 313 Softcover reprint of the original 1st ed. 2011 edition NO-PA16APR2015-KAP.
-
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 316.
-
Hardcover. Condizione: new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
-
INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURABILITY: THE ART OF PROCESS AND DESIGN INTEGRATION
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,24
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,24
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,80
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 102,29
Spedizione EUR 28,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 130,98
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,23
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,14
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 196.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,95
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . .
-
EUR 39,01
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 336 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrical Engineering Integrated Circuit Manufacturability The Art of Process and Design Integration Integrated Circuit Manufacturability provides comprehensive coverage of the process and design variables that determine the ease and feasibility of the fabrication (or manufacturability) of contemporary VLSI systems and circuits. This book progresses from semiconductor processing to electrical design to system architecture. The material provides a theoretical background as well as case studies, examining the entire design for the manufacturing path from circuit to silicon. Each chapter includes tutorial and practical applications coverage. Integrated Circuit Manufacturability illustrates the implications of manufacturability at every level of abstraction, including the effects of defects on the layout, their mapping to electrical faults, and the corresponding approaches to detect such faults. The reader will be introduced to key practical issues normally applied in industry and usually required by quality, product, and design engineering departments in today's design practices: Yield management strategies Effects of spot defects Inductive fault analysis and testing Fault-tolerant architectures and MCM testing strategies This book will serve design and product engineers both from academia and industry. It can also be used as a reference or textbook for introductory graduate-level courses on manufacturing.
-
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 di 124: Analog Circuits and Signal ProcessingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 130,84
Spedizione EUR 28,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
-
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,71
Spedizione EUR 11,55
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 191 pages. 9.30x6.20x0.50 inches. In Stock.
-
Integrated Circuit Manufacturability
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 332.
