Gyvez (76 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2010
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2007
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Editore: Springer, 2010
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 313 Softcover reprint of the original 1st ed. 2011 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2010
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 316.
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EUR 98,38
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2010
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2016
Serie: Libro 25 di 124 - Analog Circuits and Signal Processing
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VL…SI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . .
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 196.
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, 2007
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Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
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EUR 45,51
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integra…ted circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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EUR 151,67
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Paperback. Condizione: Brand New. 191 pages. 9.30x6.20x0.50 inches. In Stock.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2007
- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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EUR 165,95
EUR 3,45 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: New. pp. 352 2nd Edition.
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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EUR 29,25 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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