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PRADEEP LALL, MICHAEL G PECHT, EDWARD B HAKIM (19 risultati)
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Da: Budget Books, Pasadena, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 10,60
Convertire valutaEUR 3,43 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Fair. No Jacket. 1st Edition. This book is seriously flawed by the fact that pages 289 to 307 function as an insert. They are completely separated from the binding. But the book is all there and is otherwise in new condition. There are no tears or signs of wear to the clean pages or the cover.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging Series)
Da: Dorley House Books, Inc., Hagerstown, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 35,34
Convertire valutaEUR 7,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Near Fine. B/W Photos; Diagrams, Etc (illustratore). 1st. 1st printing; glossy pictorial c; 307 clean, unmarked pages.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,07
Convertire valutaEUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,01
Convertire valutaEUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,08
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 54,73
Convertire valutaEUR 7,49 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,24
Convertire valutaEUR 2,26 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 64,75
Convertire valutaEUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,27
Convertire valutaEUR 13,80 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 58,02
Convertire valutaEUR 17,27 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,82
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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INFLUENCE OF TEMPERATURE ON MICROELECTRONICS AND SYSTEM RELIABILITY
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 77,28
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 66,10
Convertire valutaEUR 17,27 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 82,27
Convertire valutaEUR 14,40 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 336 pages. 10.00x7.01x0.67 inches. In Stock.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 159,63
Convertire valutaEUR 3,42 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 336 1st Edition.
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EUR 141,94
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Lall, Pradeep Pecht, Michael Hakim, Edward B.This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of o.
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EUR 65,84
Convertire valutaEUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. HakimThis book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effec.
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Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 151,24
Convertire valutaEUR 7,49 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 336 400 equations This item is printed on demand.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,44
Convertire valutaEUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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