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On-wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-performance Silicon Devices at the Mm-wave Range and Beyond
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 58,92
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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On-wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-performance Silicon Devices at the Mm-wave Range and Beyond
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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On-wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-performance Silicon Devices at the Mm-wave Range and Beyond
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 56,25
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 69,37
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On-wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-performance Silicon Devices at the Mm-wave Range and Beyond
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,68
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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EUR 58,86
Spedizione EUR 48,99
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measu.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,15
Spedizione EUR 17,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond (River Publishers Series in Electronic Materials and Devices)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 128,09
Spedizione EUR 7,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond (River Publishers Series in Electronic Materials and Devices)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,51
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 72,88
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 121,76
Spedizione EUR 17,35
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Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond (River Publishers Series in Electronic Materials and Devices)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond (River Publishers Series in Electronic Materials and Devices)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 138,71
Spedizione EUR 13,85
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond (River Publishers Series in Electronic Materials and Devices)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 146,50
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 180,95
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 250 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 146,14
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 141,01
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On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond (Hardcover)
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,17
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Hardcover. The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measurement at mm-wave and sub-mm wave frequencies plays a crucial role in the modern IC design debug. Most importantly, however, is the step of device characterization for development and optimization of device model parameters for new technologies. Accurate characterization of the intrinsic device in its entire operation frequency range becomes extremely important and this task is very challenging.This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.Technical topics discussed in the book include: Specifics of S-parameter measurements of planar structures Complete mathematical solution for lumped-standard based calibration methods, including the transfer Thru-Match-Reflect (TMR) algorithms Design guideline and examples for the on-wafer calibration standards realized in both advanced SiGe BiCMOS and RF CMOS processes Methods for verification of electrical characteristics of calibration standards and accuracy of the in-situ calibration results Comparison of the new technique vs. conventional approaches: the probe-tip calibration and the pad parasitic de-embedding for various device types, geometries and model parameters New aspects of the on-wafer RF measurements at mmWave frequency range and calibration assurance. This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Andrej RumiantsevThe increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz.
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EUR 204,25
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measurement at mm-wave and sub-mm wave frequencies plays a crucial role in the modern IC design debug. Most importantly, however, is the step of device characterization for development and optimization of device model parameters for new technologies. Accurate characterization of the intrinsic device in its entire operation frequency range becomes extremely important and this task is very challenging.This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.Technical topics discussed in the book include:Specifics of S-parameter measurements of planar structuresComplete mathematical solution for lumped-standard based calibration methods, including the transfer Thru-Match-Reflect (TMR) algorithmsDesign guideline and examples for the on-wafer calibration standards realized in both advanced SiGe BiCMOS and RF CMOS processesMethods for verification of electrical characteristics of calibration standards and accuracy of the in-situ calibration resultsComparison of the new technique vs. conventional approaches: the probe-tip calibration and the pad parasitic de-embedding for various device types, geometries and model parametersNew aspects of the on-wafer RF measurements at mmWave frequency range and calibration assurance.
