Athreya arjun editor (1 risultati)
System Dependability and Analytics: Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives (Springer Series in Reliability Engineering)
Wang, Long (Editor) / Pattabiraman, Karthik (Editor) / Di Martino, Catello (Editor) / Athreya, Arjun (Editor) / Bagchi, Saurabh (Editor)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2023
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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