Bai xuedong (10 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 di 227. Libro 213 di 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Editore: Springer 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 di 227. Libro 213 di 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Editore: Springer, Springer 2019
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 di 227. Libro 213 di 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examinin…g their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Verlag 2018
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Da: Revaluation Books, Exeter, , Regno UnitoRevaluation Books
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Hardcover. Condizione: Brand New. 508 pages. 9.25x6.25x1.75 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Singapore Jan 2019 2019
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, , GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalys…is, and examining their crucial roles in modern materials research, it offers a unique resource for all researchers who work in ultramicroscopy and/or materials research.The book addresses the growing opportunities in this field and introduces readers to the state of the art in charged-particle microscopy techniques. It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy. Covering these and other essential topics, the book is intended to facilitate the development of microscopy techniques, inspire young researchers, and make a valuable contribution to the field. 516 pp. Englisch.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming|Wang, Chen|Zhang, Hongzhou|Tao, Jing|Bai, Xuedong
Lingua: Inglese
Editore: Springer Singapore 2019
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Da: moluna, Greven, , Germaniamoluna
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning el…ectron mic.
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Editore: Springer 2019
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Editore: Springer 2019
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Editore: Springer, Springer Jan 2019 2019
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Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in scanning electron microscopy,…transmission electron microscopy and helium ion microscopyExplores the growing opportunities in this field and introduces readers to state-of-the-art charged-particle microscopy techniquesSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 516 pp. Englisch.
Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Wang, Rongming|Wang, Chen|Zhang, Hongzhou|Tao, Jing|Bai, Xuedong
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Editore: Springer Singapore 2018
Serie: Springer Tracts in Modern Physics, Libro 213 di 227. Libro 213 di 227 - Springer Tracts in Modern Physics
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examines their crucial roles in modern materials researchShowcases recent advances in s…canning electron mic.
