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bashir al hashimi (98 risultati)
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Circuits, Devices and Systems) (Circuits, Devices and Systems)
Editore: Institution of Engineering and T, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 8,20
Convertire valutaEUR 12,49 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Fine. Sealed in original plastic with major tearing.
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 11,42
Convertire valutaEUR 11,21 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System-on-Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 12,29
Convertire valutaEUR 11,21 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Fair. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System on Chip: Next Generation Electronics (Volume 18)
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 16,61
Convertire valutaEUR 11,21 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Volume 18. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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System on Chip: Next Generation Electronics
Editore: Institution Of Engineering And Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
EUR 32,79
Convertire valutaEUR 11,21 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings With owner's name inside cover. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1550grams, ISBN:9780863415524.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 33,00
Convertire valutaEUR 20,67 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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The Art of Simulation Using PSPICEAnalog and Digital
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 37,64
Convertire valutaEUR 17,44 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Very Good. Former library book; may include library markings. Used book that is in excellent condition. May show signs of wear or have minor defects.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Da: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 28,32
Convertire valutaEUR 32,72 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 249 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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System-On-Chip
Editore: Institution of Engineering & Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 72,32
Convertire valutaEUR 10,38 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxviii + 911 Illus.
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System-On-Chip
Editore: Institution of Engineering & Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 75,10
Convertire valutaEUR 7,75 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxviii + 911.
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System-On-Chip
Editore: Institution of Engineering & Technology, 2006
ISBN 10: 0863415520 ISBN 13: 9780863415524
Lingua: Inglese
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,71
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. xxviii + 911.
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System-level Design Techniques For Energy-efficient Embedded Systems
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,38
Convertire valutaGratis per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,89
Convertire valutaEUR 10,54 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,89
Convertire valutaEUR 10,54 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,89
Convertire valutaEUR 10,54 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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EUR 118,64
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems addresses the development and validation of co-synthesis techniques that allow an effective design of embedded systems with low energy dissipation. The book provides an overview of a syste.
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EUR 112,77
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 123,82
Convertire valutaEUR 7,75 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 220.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Editore: Springer US, Springer New York, 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Lingua: Inglese
EUR 114,36
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Minimization of power dissipation in very large scale integrated (VLSI) circuits is important to improve reliability and reduce packaging costs. While many techniques have investigated power minimization during the functional (normal) mode of operation, it is important to examine the power dissipation during the test circuit activity is substantially higher during test than during functional operation. For example, during the execution of built-in self-test (BIST) in-field sessions, excessive power dissipation can decrease the reliability of the circuit under test due to higher temperature and current density.Power-Constrained Testing of VLSI Circuits focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. The first part of this book surveys the existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits. In the second part, several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths are presented.
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Many-Core Computing: Hardware and Software
Editore: INSTITUTION OF ENGINEERING & T, 2019
ISBN 10: 1785615823 ISBN 13: 9781785615825
Lingua: Inglese
Condizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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System on Chip : Next Generation Electronics
Editore: The Institution of Electrical Engineers, London, 2006
Da: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 41,53
Convertire valutaEUR 35,17 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. Hard cover with no jacket. Book is in very good condition. Very light wear in a few places at edges and corners. Previous owner's name to FEP. Thin mark vertically down inside of cover. Contents are otherwise clean, bright and tight. J. Used.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,88
Convertire valutaEUR 17,59 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,88
Convertire valutaEUR 17,59 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 125,59
Convertire valutaEUR 10,38 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 220 Illus.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 125,01
Convertire valutaEUR 17,21 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,11
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 220.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 137,32
Convertire valutaEUR 7,75 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 214.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,85
Convertire valutaEUR 17,21 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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System-Level Design Techniques for Energy-Efficient Embedded Systems
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 145,54
Convertire valutaEUR 10,54 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
