Bashir m al hashimi u a (1 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, 2003
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Buch. Condizione: Neu. Power-Constrained Testing of VLSI Circuits | A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard | Bashir M. Al-Hashimi (u. a.) | Buch | xi | Englisch | 2003 | Springer US | EAN 9781402072352 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]spring…er[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
