Bender emmanuel (16 risultati)
Editore: Preuves, 1963
- Brossura
Da: Abraxas-libris, Bécherel, FranciaAbraxas-libris
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato
EUR 13,86
EUR 28,95 spedizioneSpedito da Francia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloRevue. Revue grand in-8 (25.5*18.5), dos broché, 96pp., Raymond Aron : Développement, rationalité et raison ; Roger Caillois : Approche du fantastique ; Hans Bender : En gondole (nouvelle) ; Alfred Frisch : L'équilibre Europe - Afrique : Jacques Carat : Les premiers adieux de Vilar ; Gerda Zeltner : Jean Cayrol, un romancier de…l'incertitude, etc. ; bon état. Livraison a domicile (La Poste) ou en Mondial Relay sur simple demande. Preuves.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 118,70
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 117,51
EUR 3,46 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
- Rilegato
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 123,24
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 119,49
EUR 7,60 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 125,63
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 120,64
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 122,22
EUR 14,00 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
- Altre immagini
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 118,69
EUR 17,54 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
- Rilegato
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno UnitoRarewaves.com USA
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 150,31
Spedizione gratuitaSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Hardback. Condizione: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over t…he lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 133,70
EUR 17,54 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
- Prima edizione
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 152,09
EUR 9,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . .
- Rilegato
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 191,90
EUR 9,10 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. 2024. 1st Edition. hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
Reliability Prediction for Microelectronics
Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
- Rilegato
Da: Buchpark, Trebbin, GermaniaBuchpark
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 96,95
EUR 105,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 384 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
- Altre immagini
- Rilegato
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno UnitoRarewaves.com UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 141,68
EUR 75,99 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Hardback. Condizione: New. RELIABILITY PREDICTION FOR MICROELECTRONICS Wiley Series in Quality and Reliability Engineering REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over t…he lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability. Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the 'physics of failure', combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing. Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find: Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditionsDetailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and moreNew multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.
Reliability Prediction for Microelectronics Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
Joseph B. Bernstein, Alain (Universite Paris-Dauphine et INRIA) Bensoussan, Emmanuel Bender
- Rilegato
Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, GermaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 289,90
EUR 39,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: gut. 2024. Reliability Prediction for Microelectronics In englischer Sprache. pages.
