Boyer kim l (84 risultati)
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Computer Perceptual Organization in Computer Vision (Machine Perception and Artificial Intelligence)
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Pattern Recognition : 4th Mexican Conference, MCPR 2012, Huatulco, Mexico, June 27-30, 2012. Proceedings
Carrasco-Ochoa, Jesus Ariel (EDT); Martinez-trinidad, Jose Francisco (EDT); Lopez, Jose Arturo Olvera (EDT); Boyer, Kim L. (EDT)
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Pattern Recognition : 4th Mexican Conference, MCPR 2012, Huatulco, Mexico, June 27-30, 2012. Proceedings
Carrasco-Ochoa, Jesus Ariel (EDT); Martinez-trinidad, Jose Francisco (EDT); Lopez, Jose Arturo Olvera (EDT); Boyer, Kim L. (EDT)
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Serie: Libro 155 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Pattern Recognition : 4th Mexican Conference, MCPR 2012, Huatulco, Mexico, June 27-30, 2012. Proceedings
Carrasco-Ochoa, Jesus Ariel (EDT); Martinez-trinidad, Jose Francisco (EDT); Lopez, Jose Arturo Olvera (EDT); Boyer, Kim L. (EDT)
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Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2004
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Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2004
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Pattern Recognition : 4th Mexican Conference, MCPR 2012, Huatulco, Mexico, June 27-30, 2012. Proceedings
Carrasco-Ochoa, Jesus Ariel (EDT); Martinez-trinidad, Jose Francisco (EDT); Lopez, Jose Arturo Olvera (EDT); Boyer, Kim L. (EDT)
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 4th Mexican Conference on Pattern Recognition, MCPR 2012, held in Huatulco, Mexico, in June 2012. The 31 revised full papers and 3 keynotes presented were carefully reviewed and selected from 64 submissions and are organized in topical sections on image processing; computer vision and image recognition; pattern recognition and neural networks; and document processing and speech recognition.…
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Paperback. Condizione: Brand New. 2012 edition. 360 pages. 8.75x6.00x0.75 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 1995
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Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 1995
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Editore: Springer, 2000
Serie: Libro 155 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
Serie: Libro 155 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 2000
Serie: Libro 155 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editore: Springer, 2012
Serie: Libro 155 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Serie: Libro 155 di 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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