Buonaccorsi john p (34 risultati)
Measurement Error : Models, Methods, and Applications
Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Measurement Error : Models, Methods, and Applications
Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Taylor & Francis Ltd, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
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Editore: Chapman & Hall, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: CRC Press, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Condizione: New. John P. Buonaccorsi is a professor in the Department of Mathematics and Statistics at the University of Massachusetts, Amherst.Over the last 20 years, comprehensive strategies for treating measurement error in complex mode.
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Editore: CRC Press, 2023
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Measurement Error | Models, Methods, and Applications | John P Buonaccorsi | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2023 | CRC Press | EAN 9781032477688 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu.
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Taylor & Francis Group, 2010
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
Serie: Libro 17 di 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
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Editore: . Editorial: Chapman and Hall. CRC., 2010
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Aggiungi al carrelloCiencia. Idiomas-Inglés. Matemáticas. Estadística. Estados Unidos.United States of America. Colección: Interdisciplinary Statistics Series. Editorial: Chapman and Hall. CRC. 2010. No indica edición. 437 pags. 24x16 cms. Cartoné editorial. Muy buen estado. Pequeño desperfecto en la parte inferior del lomo, restañado con film tran…sparente. GASTOS DE ENVÍO: 2,50 EUROS PARA EL ENVÍO CERTIFICADO CON RECOGIDA EN OFICINA DE CORREOS. 3,50 EUROS PARA EL ENVÍO CERTIFICADO CON ENTREGA EN DOMICILIO.
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2023
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Editore: CRC Press Jan 2023, 2023
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Over the last 20 years, comprehensive strategies for treating measurement error in complex models and accounting for the use of extra data to estimate measurement error parameters have emerged. Focusing on both established and nove…l approaches, Measurement Error: Models, Methods, and Applications provides an overview of the main techniques and illustrates their application in various models. It describes the impacts of measurement errors on naive analyses that ignore them and presents ways to correct for them across a variety of statistical models, from simple one-sample problems to regression models to more complex mixed and time series models.The book covers correction methods based on known measurement error parameters, replication, internal or external validation data, and, for some models, instrumental variables. It emphasizes the use of several relatively simple methods, moment corrections, regression calibration, simulation extrapolation (SIMEX), modified estimating equation methods, and likelihood techniques. The author uses SAS-IML and Stata to implement many of the techniques in the examples.Accessible to a broad audience, this book explains how to model measurement error, the effects of ignoring it, and how to correct for it. More applied than most books on measurement error, it describes basic models and methods, their uses in a range of application areas, and the associated terminology. 464 pp. Englisch.
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2010
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Buonaccorsi, J: Measurement Error
John P. Buonaccorsi (University of Massachusetts, Amherst, Massachusetts, USA)
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Editore: CRC Press, 2010
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Editore: CRC Press, 2010
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