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-
Intelligent Internet of Things : From Device to Fog and Cloud
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 94,85
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Intelligent Internet of Things : From Device to Fog and Cloud
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 104,27
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Intelligent Internet of Things : From Device to Fog and Cloud
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 92,51
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Soc System-on-a-chip Testing for Plug and Play Test Automation
Libro 36 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,46
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Intelligent Internet of Things : From Device to Fog and Cloud
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 103,82
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,04
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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-
Soc System-on-a-chip Testing for Plug and Play Test Automation
Libro 36 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,32
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,90
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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-
Soc System-on-a-chip Testing for Plug and Play Test Automation
Libro 36 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 184,07
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Soc System-on-a-chip Testing for Plug and Play Test Automation
Libro 36 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 207,93
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 236,15
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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-
Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 248,92
Spedizione EUR 17,64
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