Claeys cor (67 risultati)
Ultra Large Scale Integration Science & Technology: 6th International Symposium
Massoud, Hisham Z. & Hiroshi Iwai & Cor Claeys & Richard B. Fair, Editors
Lingua: Inglese
Editore: Electrochemical Society, Pennington, New Jersey, U.S.A., 1997
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Serie: IOP Expanding Physics, Libro 16 di 72. Libro 16 di 72 - IOP Expanding Physics
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Serie: IOP Expanding Physics, Libro 16 di 72. Libro 16 di 72 - IOP Expanding Physics
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Serie: IOP Expanding Physics, Libro 16 di 72. Libro 16 di 72 - IOP Expanding Physics
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Editore: Iop Publishing Ltd, 2016
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Editore: Springer, 2018
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Editore: Iop Publishing Ltd, 2016
Serie: IOP Expanding Physics, Libro 16 di 72. Libro 16 di 72 - IOP Expanding Physics
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Editore: Institute of Physics Publishing, 2016
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Editore: IOP Publishing, 2016
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Condizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | As semiconductor devices move to the nanoscale, random telegraph signals have become an issue of major concern to the semiconductor industry. This book aims to provide a comprehensive and up-to-date review of one of the most challenging is…sues facing the semiconductor industry, from the fundamentals of random telegraph signals to applied technology.
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Editore: IOP Publishing Nov 2016, 2016
Serie: IOP Expanding Physics, Libro 16 di 72. Libro 16 di 72 - IOP Expanding Physics
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Buch. Condizione: Neu. Neuware - Following their first observation in 1984, random telegraph signals (RTS) were initially a purely scientific tool to study fundamental aspects of defects in semiconductor devices. As semiconductor devices move to the nanoscale however, RTS have become an issue of major concern to the semiconducto…r industry, both in the development of current technology, such as memory devices and logic circuits, as well as in future semiconductor devices beyond the silicon roadmap, such as nanowire, TFET and carbon nanotube-based devices. It has become clear that the reliability of state-of-the-art and future CMOS technology nodes is dominated by RTS and single-trap phenomena, and so its understanding is of vital importance for the modelling and simulation of the operation and the expected lifetime of CMOS devices and circuits. It is the aim of this book to provide a comprehensive and up-to-date review of one of the most challenging issues facing the semiconductor industry, from the fundamentals of RTS to applied technology.
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Editore: Springer, 2018
Serie: Springer Series in Materials Science, Libro 186 di 233. Libro 186 di 233 - Springer Series in Materials Science
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