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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,74
Spedizione EUR 13,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures : Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 364274804X ISBN 13: 9783642748042
EUR 106,99
Spedizione EUR 62,97
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures: Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 395,41
Spedizione EUR 29,00
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg Dez 2011, 2011
ISBN 10: 364274804X ISBN 13: 9783642748042
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,29
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures. 392 pp. Englisch.
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X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 364274804X ISBN 13: 9783642748042
EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable.
