Editore: J Applied Physics, 1970
Da: Larry W Price Books, Portland, OR, U.S.A.
Rivista / Giornale
Pamphlet. Condizione: Very Good. Vol 41, No 7, pp. 3139-3143, Illus, 4to, Extracted from orig vol, thus begins with title page, trimmed & stapled pamphlet, else VG.
Editore: J Applied Physics, 1967
Da: Larry W Price Books, Portland, OR, U.S.A.
Rivista / Giornale
Pamphlet. Condizione: Very Good. Vol 38, No 4, pp. 1909-1914, Illus, 4to, Extracted from orig Vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, VG.
Editore: J Applied Physics, 1968
Da: Larry W Price Books, Portland, OR, U.S.A.
Rivista / Giornale
Pamphlet. Condizione: Very Good. Vol 39, No 6, pp. 2759-2765, Illus, 4to, Extracted from orig vol, thus begins with title page, trimmed & stapled pamphlet, else VG.
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2002
ISBN 10: 9810248423 ISBN 13: 9789810248420
Da: Hamelyn, Madrid, M, Spagna
EUR 35,84
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Aggiungi al carrelloCondizione: Bueno. : Este libro trata sobre la fiabilidad del óxido de silicio, abordando el desgaste, la ruptura y la fiabilidad de este material. Se centra en el transistor metal-óxido-semiconductor (MOS) y su invención en 1960. Cubre temas seleccionados en electrónica y sistemas, proporcionando un resumen del tema. EAN: 9789810248420 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Oxide Reliability Autor: D. J. Dumin Editorial: World Scientific Publishing Company Idioma: en Páginas: 280 Formato: tapa dura.