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Valutazione venditore
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 44,76
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,54
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 49,21
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 46,27
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,80
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 50,61
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy (Paperback)
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing AG, Cham, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: new. Paperback. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 58,68
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
hardcover. Condizione: Fine.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 69,52
Spedizione EUR 14,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 370 pages. 9.18x6.12 inches. In Stock.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 2024th edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 86,84
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 86,93
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy (Paperback)
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing AG, Cham, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 65,53
Spedizione EUR 42,43
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: new. Paperback. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,96
Spedizione EUR 9,03
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy (Paperback)
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing AG, Cham, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Da: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 83,03
Spedizione EUR 31,83
Spedito da Australia a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: new. Paperback. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,80
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
EUR 69,54
Spedizione EUR 63,32
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists.
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Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2024
ISBN 10: 3031442326 ISBN 13: 9783031442322
EUR 96,29
Spedizione EUR 64,12
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 187,30
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 202,64
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 198,32
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 214,82
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 229,08
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 272,85
Spedizione EUR 14,33
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 368 pages. 9.19x6.13x1.10 inches. In Stock.
