Fengbo ren (6 risultati)

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. Energy-Performance Characterization of CMOS/MTJ Hybrid Circuits | Can Magnetic Tunnel Junction (MTJ) help CMOS technology become ultra-low power? | Fengbo Ren | Taschenbuch | 76 S. | Englisch | 2012 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9783659298912 | Verantwortliche Person für die EU: preigu Gmb

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      Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing Nov 2012, 2012

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The explosive growth of the semiconductor industry has been driven by the rapid scaling of CMOS technology. Yet, as scaling getting closer to the physical limit, the increasing device leakage and viability greatly deteriorate the e

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      Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Ren FengboDr. Ren received the B.Eng. degree from Zhejiang University and the M.S. and Ph.D degrees from UCLA in 2008, 2010 and 2013, respectively, all in EE. His current research interests include cir

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The explosive growth of the semiconductor industry has been driven by the rapid scaling of CMOS technology. Yet, as scaling getting closer to the physical limit, the increasing device leakage and viability greatly deteriorate the energ

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      Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The explosive growth of the semiconductor industry has been driven by the rapid scaling of CMOS technology. Yet, as scaling getting closer to the physical limit, the increasing device leakage and viability greatly deteriorate the energy