Georg wiora (13 risultati)

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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Diplomarbeit aus dem Jahr 1996 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 1,0, Karlsruher Institut für Technologie (KIT) (Physik, Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe:Problemstellung:Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der die Auswertung von mikroskopischen Fokusserien, bezüglich der Oberflächenform des Objektes, mit einem Regressionsverfahren bei minimalem Speicherbedarf und sehr hoher Auflösung ermöglicht. Verschiedene strukturierte Raster wurden auf ihre Tauglichkeit zur mikroskopischen Projektion zwecks Kontrasterhöhung untersucht. Mehrere Kontrastoperatoren wurden bezüglich ihrer Eignung für dieses Verfahren geprüft und schließlich ein kombinierter Operator entworfen, der sich im praktischen Einsatz bewährt hat. Weiterhin wurde eine Methode entwickelt, um die axiale Auflösung zu bestimmen. Anhand dieses Parameters wurde das System optimiert. Schließlich wurden die Ursachen verschiedener systematischer Meßfehler analysiert und Möglichkeiten zu ihrer Beseitigung entwickelt bzw. aufgezeigt.Inhaltsverzeichnis:Inhaltsverzeichnis:1.Einleitung11.1Motivation11.2Geschichte11.3Stand der Technik21.3.1Laserprofilometer21.3.2Streifenprojektion31.3.3Stereoskopie31.3.4Laser-Scanning-Mikroskop31.3.5Rastersondenmikroskop31.3.6Konfokale Verfahren42.Systembeschreibung52.1Aufbau52.2Meßmethode52.3Strukturbeleuchtung72.3.1Streuscheibe92.3.2Diafilm-Raster92.3.3Chrommasken92.3.4Auswahl des besten Rasters102.4Algorithmus102.4.1Scharfbild-, Kontrast-, und Momentenberechnung122.4.2Regression132.4.3Speicherbedarf132.4.4Laufzeit143.Kontrastoperatoren153.1Lokale Kontrastoperatoren153.1.1Laplace-Operator153.1.2AND Operator173.1.3Sobel Operator193.1.4Convsobel Operator193.2Globale Kontrastoperatoren223.2.1Aufteilung der Raumfrequenzen223.2.2Berechnung der Grenzfrequenzen233.2.3Fourier-Filterung243.3Vergleich der Operatoren253.3.1Axiales Auflösungsvermögen253.3.2Rechenzeit263.3.3Signal-Mittelwert-Verhältnis273.3.4Bewertung284.Geometrische Abschätzung des Auflösungsvermögens294.1Das Abbildungsmodell294.2Verschiebung der Fokusebene304.2.1Mikroskop314.2.2Kamera324.3Auflösungsvermögen324.4Messung des axialen Auflösungsvermögens324.4.1Methode334.5Theoretisches und experimentelles Auflösungsvermögen334.5.1Mikroskop334.5.2Kamera335.Optimale Abtastung der Kontrastkurve365.1Herleitung der optimalen Abtastung365.1.1Modellbildung365.1.2Fehlerfortpflanzung375.1.3Dreipunktabtastung385.1.4Optimale Schrittweite395.2Genauigkeit in Abhängigkeit von der Schrittweite405.2.1Optimale Genauigkeit405.2.2Genauigkeit bei nicht optimaler Abtastung416.Störgrößen und Meßfehler426.1Systematische Fehler426.1.1Defokussierungsfehler436.1.2Fehler bei Verwendung des Chromrasters466.1.3Fehler bei Verwendung der Streuscheibe466.1.4Abschattung476.1.5Fehler durch Formabweichungen der Kontrastkurve526.1.6Rundungsfehler556.1.7Bildfeldwölbung556.1.8Axiale chromatische Aberration596.2Statistische Fehler606.2.1Kontrastrauschen606.2.2Reproduzierbarkeit627.Anwendungsbeispiele638.Schluß658.1Resümee658.2Ausblick669.Danksagung67ARegressionsformeln68A.1Herleitung der quadratischen Regression68A.2Herleitung der Ebenenregression70BKontrastkurven72CGlossar75Literaturverzeichnis79 96 pp. Deutsch. …

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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Diplomarbeit aus dem Jahr 1996 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 1,0, Karlsruher Institut fuer Technologie (KIT) (Physik, Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe:Problemstellung:Es wurde ein Algorithmus entwickelt, . …

Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Inhaltsangabe:Problemstellung:Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der die Auswertung von mikroskopischen Fokusserien, bezüglich der Oberflächenform des Objektes, mit einem Regressionsverfahren bei minimalem Speicherbedarf und sehr hoher Auflösung ermöglicht. Verschiedene strukturierte Raster wurden auf ihre Tauglichkeit zur mikroskopischen Projektion zwecks Kontrasterhöhung untersucht. Mehrere Kontrastoperatoren wurden bezüglich ihrer Eignung für dieses Verfahren geprüft und schließlich ein kombinierter Operator entworfen, der sich im praktischen Einsatz bewährt hat. Weiterhin wurde eine Methode entwickelt, um die axiale Auflösung zu bestimmen. Anhand dieses Parameters wurde das System optimiert. Schließlich wurden die Ursachen verschiedener systematischer Meßfehler analysiert und Möglichkeiten zu ihrer Beseitigung entwickelt bzw. aufgezeigt.Inhaltsverzeichnis:Inhaltsverzeichnis:1.Einleitung11.1Motivation11.2Geschichte11.3Stand der Technik21.3.1Laserprofilometer21.3.2Streifenprojektion31.3.3Stereoskopie31.3.4Laser-Scanning-Mikroskop31.3.5Rastersondenmikroskop31.3.6Konfokale Verfahren42.Systembeschreibung52.1Aufbau52.2Meßmethode52.3Strukturbeleuchtung72.3.1Streuscheibe92.3.2Diafilm-Raster92.3.3Chrommasken92.3.4Auswahl des besten Rasters102.4Algorithmus102.4.1Scharfbild-, Kontrast-, und Momentenberechnung122.4.2Regression132.4.3Speicherbedarf132.4.4Laufzeit143.Kontrastoperatoren153.1Lokale Kontrastoperatoren153.1.1Laplace-Operator153.1.2AND Operator173.1.3Sobel Operator193.1.4Convsobel Operator193.2Globale Kontrastoperatoren223.2.1Aufteilung der Raumfrequenzen223.2.2Berechnung der Grenzfrequenzen233.2.3Fourier-Filterung243.3Vergleich der Operatoren253.3.1Axiales Auflösungsvermögen253.3.2Rechenzeit263.3.3Signal-Mittelwert-Verhältnis273.3.4Bewertung284.Geometrische Abschätzung des Auflösungsvermögens294.1Das Abbildungsmodell294.2Verschiebung der Fokusebene304.2.1Mikroskop314.2.2Kamera324.3Auflösungsvermögen324.4Messung des axialen Auflösungsvermögens324.4.1Methode334.5Theoretisches und experimentelles Auflösungsvermögen334.5.1Mikroskop334.5.2Kamera335.Optimale Abtastung der Kontrastkurve365.1Herleitung der optimalen Abtastung365.1.1Modellbildung365.1.2Fehlerfortpflanzung375.1.3Dreipunktabtastung385.1.4Optimale Schrittweite395.2Genauigkeit in Abhängigkeit von der Schrittweite405.2.1Optimale Genauigkeit405.2.2Genauigkeit bei nicht [¿]Diplomica Verlag, Hermannstal 119k, 22119 Hamburg 96 pp. Deutsch.…

Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Diplomarbeit aus dem Jahr 1996 im Fachbereich Physik - Angewandte Physik, Note: 1,0, Karlsruher Institut für Technologie (KIT) (Physik, Angewandte Physik), Sprache: Deutsch, Abstract: Inhaltsangabe:Problemstellung:Es wurde ein Algorithmus entwickelt, der die Auswertung von mikroskopischen Fokusserien, bezüglich der Oberflächenform des Objektes, mit einem Regressionsverfahren bei minimalem Speicherbedarf und sehr hoher Auflösung ermöglicht. Verschiedene strukturierte Raster wurden auf ihre Tauglichkeit zur mikroskopischen Projektion zwecks Kontrasterhöhung untersucht. Mehrere Kontrastoperatoren wurden bezüglich ihrer Eignung für dieses Verfahren geprüft und schließlich ein kombinierter Operator entworfen, der sich im praktischen Einsatz bewährt hat. Weiterhin wurde eine Methode entwickelt, um die axiale Auflösung zu bestimmen. Anhand dieses Parameters wurde das System optimiert. Schließlich wurden die Ursachen verschiedener systematischer Meßfehler analysiert und Möglichkeiten zu ihrer Beseitigung entwickelt bzw. aufgezeigt.Inhaltsverzeichnis:Inhaltsverzeichnis:1.Einleitung11.1Motivation11.2Geschichte11.3Stand der Technik21.3.1Laserprofilometer21.3.2Streifenprojektion31.3.3Stereoskopie31.3.4Laser-Scanning-Mikroskop31.3.5Rastersondenmikroskop31.3.6Konfokale Verfahren42.Systembeschreibung52.1Aufbau52.2Meßmethode52.3Strukturbeleuchtung72.3.1Streuscheibe92.3.2Diafilm-Raster92.3.3Chrommasken92.3.4Auswahl des besten Rasters102.4Algorithmus102.4.1Scharfbild-, Kontrast-, und Momentenberechnung122.4.2Regression132.4.3Speicherbedarf132.4.4Laufzeit143.Kontrastoperatoren153.1Lokale Kontrastoperatoren153.1.1Laplace-Operator153.1.2AND Operator173.1.3Sobel Operator193.1.4Convsobel Operator193.2Globale Kontrastoperatoren223.2.1Aufteilung der Raumfrequenzen223.2.2Berechnung der Grenzfrequenzen233.2.3Fourier-Filterung243.3Vergleich der Operatoren253.3.1Axiales Auflösungsvermögen253.3.2Rechenzeit263.3.3Signal-Mittelwert-Verhältnis273.3.4Bewertung284.Geometrische Abschätzung des Auflösungsvermögens294.1Das Abbildungsmodell294.2Verschiebung der Fokusebene304.2.1Mikroskop314.2.2Kamera324.3Auflösungsvermögen324.4Messung des axialen Auflösungsvermögens324.4.1Methode334.5Theoretisches und experimentelles Auflösungsvermögen334.5.1Mikroskop334.5.2Kamera335.Optimale Abtastung der Kontrastkurve365.1Herleitung der optimalen Abtastung365.1.1Modellbildung365.1.2Fehlerfortpflanzung375.1.3Dreipunktabtastung385.1.4Optimale Schrittweite395.2Genauigkeit in Abhängigkeit von der Schrittweite405.2.1Optimale Genauigkeit405.2.2Genauigkeit bei nicht optimaler Abtastung416.Störgrößen und Meßfehler426.1Systematische Fehler426.1.1Defokussierungsfehler436.1.2Fehler bei Verwendung des Chromrasters466.1.3Fehler bei Verwendung der Streuscheibe466.1.4Abschattung476.1.5Fehler durch Formabweichungen der Kontrastkurve526.1.6Rundungsfehler556.1.7Bildfeldwölbung556.1.8Axiale chromatische Aberration596.2Statistische Fehler606.2.1Kontrastrauschen606.2.2Reproduzierbarkeit627.Anwendungsbeispiele638.Schluß658.1Resümee658.2Ausblick669.Danksagung67ARegressionsformeln68A.1Herleitung der quadratischen Regression68A.2Herleitung der Ebenenregression70BKontrastkurven72CGlossar75Literaturverzeichnis79. …

Taschenbuch. Condizione: Neu. Entwicklung eines Verfahrens zur konfokalen Mikrotopographievermessung mit Strukturprojektion | Georg Wiora | Taschenbuch | 96 S. | Deutsch | 1999 | [.] | EAN 9783838619781 | Verantwortliche Person für die EU: Bedey und Thoms Media GmbH, Hermannstal 119k, 22119 Hamburg, kontakt[at]bedey-media[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. …