Giber j edt (8 risultati)
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Secondary Ion Mass Spectrometry Sims III : Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-September 5, 1981
Benninghoven, A. (EDT); Giber, J. (EDT); Laszlo, J. (EDT); Riedel, M. (EDT); Werner, H. W. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Springer Series in Chemical Physics, Libro 10 di 99. Libro 10 di 99 - Springer Series in Chemical Physics
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Defect Complexes in Semiconductor Structures : Proceedings of the International School Held in Mátrafüred, Hungary, September 13 - 17, 1982
Giber, J. (EDT); Beleznay, F. (EDT); Szep, I. C. (EDT); Laszlo, J. (EDT)
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Secondary Ion Mass Spectrometry Sims III : Proceedings of the Third International Conference, Technical University, Budapest, Hungary, August 30-September 5, 1981
Benninghoven, A. (EDT); Giber, J. (EDT); Laszlo, J. (EDT); Riedel, M. (EDT); Werner, H. W. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer 2012
Serie: Springer Series in Chemical Physics, Libro 10 di 99. Libro 10 di 99 - Springer Series in Chemical Physics
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