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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Good condition! Any other included accessories are also in Good condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear.
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Hardcover. Condizione: New. SHRINK-WRAPPED: US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Edizione InternazionaleDesign for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be printed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Design For Manufacturability And Yield For Nano-Scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Design For Manufacturability And Yield For Nano-Scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Design For Manufacturability And Yield For Nano-scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Soft cover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FROM USA.
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,04
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,17
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 130,51
Spedizione EUR 2,26
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,16
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 127,34
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design for Manufacturability And Yield for Nano-Scale Cmos
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 128,27
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 288.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsLingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, Springer, 2010
ISBN 10: 9048173035 ISBN 13: 9789048173037
EUR 112,77
Spedizione EUR 62,21
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the design and layout of standard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, mask planning, simulation and manufacturing, and through statistical design and statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Netherlands, 2007
ISBN 10: 1402051875 ISBN 13: 9781402051876
EUR 114,36
Spedizione EUR 63,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process and how to address each aspect at the proper design step starting with the design and layout of standard cells and how to yield-grade libraries for critical area and lithography artifacts through place and route, CMP model based simulation and dummy-fill insertion, mask planning, simulation and manufacturing, and through statistical design and statistical timing closure of the design. It alerts the designer to the pitfalls to watch for and to the good practices that can enhance a design's manufacturability and yield. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS (Integrated Circuits and Systems)
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 174,75
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsLingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands Nov 2010, 2010
ISBN 10: 9048173035 ISBN 13: 9789048173037
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development. 288 pp. Englisch.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsLingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands Jul 2007, 2007
ISBN 10: 1402051875 ISBN 13: 9781402051876
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development. 288 pp. Englisch.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsEUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Addressing a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyondNo book available today with comprehensive coverage of this topicBook covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flowDr. Charles Chiang is R&D Director of the Advanced.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsEUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Addressing a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyondNo book available today with comprehensive coverage of this topicBook covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flowDr. Charles Chiang is R&D Director of the Advanced.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 147,56
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 288 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Libro 5 di 34: Integrated Circuits and SystemsDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 149,33
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 288.
