Jenkins ms ron (15 risultati)
- Brossura
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.World of Books (was SecondSale)
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 12,66
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Paperback. Condizione: Very Good.
- Brossura
Da: World of Books Inc, Montgomery, IL, U.S.A.World of Books Inc
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 14,49
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Paperback. Condizione: Very Good.
- Brossura
Da: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, U.S.A.World of Books (was SecondSale)
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 16,11
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Paperback. Condizione: Good.
- Brossura
Da: World of Books Inc, Montgomery, IL, U.S.A.World of Books Inc
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 17,94
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Paperback. Condizione: Good.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 37
Noyan, I C; Gilfrich; Huang, T C; Goldsmith, Charles C; Gilfrich, J V; Gilfrich, John V; Goldsmith, C C; Huang, Ting C; Jenkins MS, Ron; Noyan, I Cev
- Rilegato
Da: BooksRun, Philadelphia, PA, U.S.A.BooksRun
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 56,75
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Hardcover. Condizione: Very Good. 1. With dust jacket. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
- Rilegato
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 75,32
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
- Rilegato
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 76,35
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Rilegato
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 114,38
EUR 3,55 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: Used. pp. 778 1st Edition.
- Rilegato
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 110,95
EUR 7,74 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: Used. pp. 778.
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 106,03
EUR 17,80 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In English.
- Rilegato
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato
EUR 112,58
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: Used. pp. 778.
Advances in X-ray Analysis
Gilfrich, John V.|Goldsmith, C. C.|Huang, Ting C.|Jenkins, Ron|Noyan, I. Cev
- Rilegato
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 104,46
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Gebunden. Condizione: New. 89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction .
- Rilegato
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 155,79
EUR 23,82 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. 784 pages. 10.25x7.00x1.75 inches. In Stock.
- Rilegato
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 140,66
EUR 46,07 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Buch. Condizione: Neu. Neuware - 89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films. Xray Characterization of Films and Surface Layers. Strain and Stress Determination, Xray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis. Advances in Detectors and Counting Electronics. XRD Techniques and Instrumentation, Nonambient Applications, Texture, other Applications. Xray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, other XRF Techniques and Instrumentation. Mathematical Techniques in Xray Spectrometry. Geological and other Applications of XRS. Index.…
- Rilegato
- Print on Demand
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno UnitoTHE SAINT BOOKSTORE
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 111,83
EUR 19,07 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Hardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
