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Paese del venditore
Valutazione venditore
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EUR 3,01
Spedizione EUR 15,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In poor condition, suitable as a reading copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1400grams, ISBN:0306307529.
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EUR 3,01
Spedizione EUR 15,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Poor. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In poor condition, suitable as a reading copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1450grams, ISBN:0306307529.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; surplus library copy with the usual stampings; reference number taped to spine; light fading, shelf wear to exterior; tape marks on front cover; bump to bottom corners; otherwise in good condition with clean text, firm binding.
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Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw-Hill, 1970
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; Texas Instruments Electronics Series; surplus library copy with the usual stampings; reference number affixed to spine; fading and shelf wear to exterior; otherwise in good condition with clean text and tight binding.
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Characterization of Semiconductor Materials
Editore: McGraw-Hill Book Co, New York, 1970
Da: Rivermead Books, Southampton., Regno Unito
Valutazione del venditore 1 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 14,43
Spedizione EUR 24,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCloth. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: Good. First Edition. VG/Good, orange-brown pictorial dj in transparent dw and with white titles on spine faded to grey, ex-Royal Aircraft Establishment Library, contents are clean and unmarked, large octavo 351pp. Weight 900g so an oversized and overweight book that will require extra shipping charges. A book in the Texas Instruments Electronic series. Semiconductor principles; bulk-material characterization; materials characterization in single-crystal growth; analysis of single-crystals for chemical imperfections; characterization of single crystals for physical imperfections; characterization of semiconductor surfaces; characterization of epitaxial films; diffusion; characterization of thin films. Ex-Library.
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Characterization of semiconductor materials
Editore: Mcgraw-Hill, London 1970, 1970
Da: Antiquariat Thomas & Reinhard, Recklinghausen, NRW, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 27,00
Spedizione EUR 19,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloLEINENeinband, Lex.8°, 351 Seiten, dies ist ein regulär ausgesondertes Bibliotheksexemplar aus einer wissenschaftlichen Bibliothek, keine Markierungen-Anstreichungen im Text, das Buch befindet sich in einem guten Zustand --------- LINEN BINDING, 351 pages, Library-Ex. with usual signature and stamps, no marks and underlines, the book is in a good condition. Shipping to abroad insured with tracking number.
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Characterization of Solid Surfaces.
Editore: Library stamps/marks on first free endpaper and titelpage. Text clean. Plenum Press, New York.
Da: Antiquariaat Ovidius, Bredevoort, Paesi Bassi
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 24,00
Spedizione EUR 22,00
Spedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Gebraucht / Used. third printing. 1978. Hardcover. xviii,670pp.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 116,51
Spedizione EUR 13,99
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 692.
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EUR 128,20
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Until comparatively recently, trace analysis techniques were in general directed toward the determination of impurities in bulk materials. Methods were developed for very high relative sensitivity, and the values determined were average values. Sampling pro.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 159,50
Spedizione EUR 7,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 692 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Characterization of Solid Surfaces
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 161,05
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 692.
