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High-Resolution Sensors and Hybrid Systems: Proceedings of SPIE, Volume 1656, 10-14 February 1992, San Jose, California
Lingua: Inglese
Editore: SPIE PRESS-The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, U.S.A., 1992
ISBN 10: 0819408107 ISBN 13: 9780819408105
Da: SUNSET BOOKS 2, Newark, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Paperback. Condizione: Very Good. No Jacket. 1st. ORIGINAL, NOT A REPRINT OR PHOTOCOPY!! NO Dust Jacket. Has or May Have all standard Library markings, pocket, labels, stamps, wear and soil to covers. CLEAN TEXT! See Picture! The Copyright date is 1992 for this Printing. This volume was purchased through DMRO from the Wright-Patterson Technical Library in the late 1990's. Thank you for your purchase from Sunset Books! Help Promote World Literacy, GIVE a Book as a GIFT!! In stock, Ships from Ohio. Will not fit in Flat Rate Priority Mail envelope. USPS Variable Rate applies for Domestic or International. WE COMBINE SHIPPING ON MULTIPLE PURCHASES!!!! SEE PICTURES!!!!! ANY ODD/GREEN TONES ON THE SCANS ARE CAUSED BY MY SCANNER!! All of our Technical/Textbook/Ex-Library volumes were obtained legally through Public or Auction sales. This volume was purchased through Local Public Auction. All of our Technical/Textbook/Ex-Library volumes were obtained legally through Public or Auction sales. This volume was purchased through DMRO from the Wright-Patterson Technical Library in the late 1990's. Size: 4to. Ex-Library.
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for . / Materials Physics and Applications)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics (edition 2007), 2007
ISBN 10: 0735404410 ISBN 13: 9780735404410
Da: BooksRun, Philadelphia, PA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. 2007. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
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EUR 79,80
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 398 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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EUR 145,53
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 578 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for . / Materials Physics and Applications)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics, 2007
ISBN 10: 0735404410 ISBN 13: 9780735404410
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 246,84
Spedizione EUR 28,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003: 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology (AIP Conference Proceedings, 683)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics, 2003
ISBN 10: 0735401527 ISBN 13: 9780735401525
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: acceptable. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Acceptable condition! Any other included accessories are also in Acceptable condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear such as cover tears discoloration, staining, marks, scuffs, etc. All pages intact.
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Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003: 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology (AIP Conference Proceedings, 683)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics, 2003
ISBN 10: 0735401527 ISBN 13: 9780735401525
Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 443,78
Spedizione EUR 12,26
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 (AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 456,88
Spedizione EUR 28,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003: 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology (AIP Conference Proceedings)
Lingua: Inglese
Editore: American Institute of Physics, 2003
ISBN 10: 0735401527 ISBN 13: 9780735401525
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 903,09
Spedizione EUR 28,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Acceptable. Acceptable. Dust Jacket NOT present. CD WILL BE MISSING. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
