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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2013
0415846692 / 9780415846691
Serie: Libro 11 di 37 - SIOP Organizational Frontiers
- Brossura
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2013
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Serie: Libro 11 di 37 - SIOP Organizational Frontiers
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2013
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2020
0367330962 / 9780367330965
Serie: Libro 11 di 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2013
0415846692 / 9780415846691
Serie: Libro 11 di 37 - SIOP Organizational Frontiers
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Editore: Routledge, 2020
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Editore: Routledge, 2020
0367330962 / 9780367330965
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2020
0367330962 / 9780367330965
Serie: Libro 11 di 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
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Editore: Routledge, 2009
1848728301 / 9781848728301
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge, 2009
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Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editore: Routledge, 2009
1848728301 / 9781848728301
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Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2013
1466555661 / 9781466555662
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1466555661 / 9781466555662
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