Klein john p edt (20 risultati)
Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge 2020
Serie: Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods, Libro 11 di 27. Libro 11 di 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Routledge 2013
Serie: SIOP Organizational Frontiers, Libro 11 di 37. Libro 11 di 37 - SIOP Organizational Frontiers
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editore: Routledge 2013
Serie: SIOP Organizational Frontiers, Libro 11 di 37. Libro 11 di 37 - SIOP Organizational Frontiers
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editore: Routledge 2013
Serie: SIOP Organizational Frontiers, Libro 11 di 37. Libro 11 di 37 - SIOP Organizational Frontiers
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Editore: Routledge 2013
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
Klein, Howard J. (EDT); Becker, Thomas E. (EDT); Meyer, John P. (EDT)
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
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Editore: Routledge 2009
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
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Commitment in Organizations : Accumulated Wisdom and New Directions
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Editore: Routledge 2009
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC 2013
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Handbook of Survival Analysis
Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC 2013
Serie: Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods, Libro 11 di 27. Libro 11 di 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Klein, John P. (EDT); Van Houwelingen, Hans C. (EDT); Ibrahim, Joseph G. (EDT); Scheike, Thomas H. (EDT)
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Serie: Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods, Libro 11 di 27. Libro 11 di 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Editore: Chapman and Hall/CRC 2013
Serie: Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods, Libro 11 di 27. Libro 11 di 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Klein, Lawrence Robert (EDT); Goodwin, R.; Hurwicz, L.; Kahn, R.; Kaldor, N.; Kalecki, M.; Keynes, John Maynard; Lerner, Abba Ptachya; Philips, A. W.; Robinson, J.; Verdoorn, P.; Klein, Lawrence Robert
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Landmark Papers in Economic Fluctuations, Economic Policy and Related Subjects
Klein, Lawrence Robert (EDT); Goodwin, R.; Hurwicz, L.; Kahn, R.; Kaldor, N.; Kalecki, M.; Keynes, John Maynard; Lerner, Abba Ptachya; Philips, A. W.; Robinson, J.; Verdoorn, P.; Klein, Lawrence Robert
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Landmark Papers in Economic Fluctuations, Economic Policy and Related Subjects
Klein, Lawrence Robert (EDT); Goodwin, R.; Hurwicz, L.; Kahn, R.; Kaldor, N.; Kalecki, M.; Keynes, John Maynard; Lerner, Abba Ptachya; Philips, A. W.; Robinson, J.; Verdoorn, P.; Klein, Lawrence Robert
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