Kropatsch walter (235 risultati)
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Softcover/Paperback. Condizione: Gut. 268 Seiten Exemplar aus einer wissenchaftlichen Bibliothek Altersfreigabe FSK ab 0 Jahre Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 469 Softcover reprint of the original 1st ed. 1996.
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Discrete Geometry for Computer Imagery : 20th Iapr International Conference, Proceedings
Kropatsch, Walter G. (EDT); Artner, Nicole M. (EDT); Janusch, Ines (EDT)
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Computer Analysis of Images and Patterns : 14th International Conference, Caip 2011, Seville, Spain, August 29-31, 2011, Proceedings
Berciano, Ainhoa (EDT); Diaz-pernil, Daniel (EDT); Kropatsch, Walter (EDT); Molina-abril, Helena (EDT); Real, Pedro (EDT)
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Advances in Computer Vision (Advances in Computing Science)
Franc Solina, Walter G. Kropatsch, Reinhard Klette, Ruzena Bajcsy
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Computer Analysis of Images and Patterns : 14th International Conference, Caip 2011, Seville, Spain, August 29-31, 2011, Proceedings, Part II
Berciano, Ainhoa (EDT); Díaz-pernil, Daniel (EDT); Kropatsch, Walter (EDT); Molina-abril, Helena (EDT); Real, Pedro (EDT)
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Theoretical Foundations of Computer Vision : Computing Supplement 11
Kropatsch, Walter G. (EDT); Klette, Reinhard (EDT); Solina, F. (EDT); Albrecht, R. (EDT)
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Advances in Computer Vision
Solina, F.; Kropatsch, Walter G. (EDT); Klette, R. (EDT); Bajcsy, R. (EDT)
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Discrete Geometry for Computer Imagery : 20th Iapr International Conference, Proceedings
Kropatsch, Walter G. (EDT); Artner, Nicole M. (EDT); Janusch, Ines (EDT)
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Advances in Computer Vision
Solina, F.; Kropatsch, Walter G. (EDT); Klette, R. (EDT); Bajcsy, R. (EDT)
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Graph-based Representations in Pattern Recognition : 10th Iapr-tc-15 International Workshop, Gbrpr 2015, Beijing, China, May 13-15, 2015. Proceedings
Liu, Cheng-lin (EDT); Luo, Bin (EDT); Kropatsch, Walter G. (EDT); Cheng, Jian (EDT)
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Advances in Pattern Recognition : Icapr 2001 : Second International Conference, Rio De Janeiro, Brazil, March 11-14, 2001 : Proceedings
International Conference on Advances in Pattern Recognition (2nd : 2001 : Rio de Janeiro, Brazil) (COR); Murshed, Nabeel A. (EDT); Kropatsch, Walter G. (EDT); Singh, Sameer (EDT); Murshed, Nabeel A.; Kropatsch, Walter G.
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