Lefevree bruce g (4 risultati)

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 72,97
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: New.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 87,01
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 77,77
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: New.

Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
LuValle, Michael J.; Lefevree, Bruce G.; Kannan, Sri Raman; Lefevre, Bruce G.; Kannan, Sriraman
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 88,19
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.