Leo marco edt (16 risultati)

New Trends in Image Analysis and Processing - Iciap 2017 Workshops : Iciap International Workshops, Wbicv, Sspandbe, 3as, Rgbd, Nivar, Iwbaas, and Madima 2017, Catania, Italy, September 11-15, 2017, Revised Selected Papers
Battiato, Sebastiano (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Leo, Marco (EDT); Gallo, Giovanni (EDT)
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New Trends in Image Analysis and Processing, Iciap 2013 Workshops : Naples, Italy, September 2013, Proceedings
Petrosino, Alfredo (EDT); Maddalena, Lucia (EDT); Pala, Pietro (EDT); Cantoni, Virginio (EDT); Ceccarelli, Michele (EDT)
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New Trends in Image Analysis and Processing, Iciap 2013 Workshops : Naples, Italy, September 2013, Proceedings
Petrosino, Alfredo (EDT); Maddalena, Lucia (EDT); Pala, Pietro (EDT); Cantoni, Virginio (EDT); Ceccarelli, Michele (EDT)
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New Trends in Image Analysis and Processing - Iciap 2017 Workshops : Iciap International Workshops, Wbicv, Sspandbe, 3as, Rgbd, Nivar, Iwbaas, and Madima 2017, Catania, Italy, September 11-15, 2017, Revised Selected Papers
Battiato, Sebastiano (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Leo, Marco (EDT); Gallo, Giovanni (EDT)
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Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
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Battiato, Sebastiano (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Leo, Marco (EDT); Gallo, Giovanni (EDT)
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New Trends in Image Analysis and Processing, Iciap 2013 Workshops : Naples, Italy, September 2013, Proceedings
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Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
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Battiato, Sebastiano (EDT); Farinella, Giovanni Maria (EDT); Leo, Marco (EDT); Gallo, Giovanni (EDT)
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Image Analysis and Processing ? Iciap 2022 : 21st International Conference, Lecce, Italy, May 23?27, 2022, Proceedings
Sclaroff, Stan (EDT); Distante, Cosimo (EDT); Leo, Marco (EDT); Farinella, Giovanni M. (EDT); Tombari, Federico (EDT)
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Lingua: Inglese
Editore: Academic Press, 2018
Serie: Libro 5 di 10 - Computer Vision and Pattern Recognition
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Lingua: Inglese
Editore: Academic Press, 2018
Serie: Libro 5 di 10 - Computer Vision and Pattern Recognition
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Editore: Academic Press, 2018
Serie: Libro 5 di 10 - Computer Vision and Pattern Recognition
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Serie: Libro 5 di 10 - Computer Vision and Pattern Recognition
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