Lingua: Cinese
Editore: Beijing Children's Publishing House, 2000
ISBN 10: 7530111515 ISBN 13: 9787530111512
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Lingua: Cinese
Editore: Hubei Science and Technology Press, 2000
ISBN 10: 7535228356 ISBN 13: 9787535228352
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Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: New. Language:Chinese.Paperback. Pages Number: 194 Publisher: Hubei Science and Technology Press Pub. Date :2007-01-01. United States. pheasant breeding technology focuses on biological characteristics of pheasants; pheasant species; pheasant nutritional needs and feeding; pheasant rearing facilities and equipment; pheasant breeding and artificial incubation techniques; pheasant pheasant rearing management techniques and disease prevention in nine parts. Contents: an overview of the biological cha.
Da: Buchpark, Trebbin, Germania
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Aggiungi al carrelloCondizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
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Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9819943450 ISBN 13: 9789819943456
Da: moluna, Greven, Germania
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book systematically studies the feedback control and filtering problems for nonlinear plants with limited communication channels based on T-S fuzzy models. By fully considering different network-induced phenomena, such as signal quantizations, time-del.
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9811931348 ISBN 13: 9789811931345
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimenta.
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Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2022
ISBN 10: 9811931313 ISBN 13: 9789811931314
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