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Bringing Scanning Probe Microscopy Up To Speed (microsystems)
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 119,55
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 176 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed (Microsystems)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,35
Spedizione EUR 13,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed (Microsystems, 3)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,35
Spedizione EUR 13,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 121,60
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 176.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Used. pp. 176.
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Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792384660 ISBN 13: 9780792384663
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,62
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Introduces the principles of scanning probe systems focusing on techniques for increasing speed. This book includes information on the characteristics and limitations of machines as well as the properties of the systems that follow in the future. Series: Microsystems. Num Pages: 159 pages, biography. BIC Classification: PDND; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . .
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EUR 59,13
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed introduces the principles of scanning probe systems with particular emphasis on techniques for increasing speed. The authors include useful information on the characteristics and limitations of current state-of-the-art machines as well as the properties of the systems that will follow in the future. The basic approach is two-fold. First, fast scanning systems for single probes are treated and, second, systems with multiple probes operating in parallel are presented. The key components of the SPM are the mechanical microcantilever with integrated tip and the systems used to measure its deflection. In essence, the entire apparatus is devoted to moving the tip over a surface with a well-controlled force. The mechanical response of the actuator that governs the force is of the utmost importance since it determines the scanning speed. The mechanical response relates directly to the size of the actuator; smaller is faster. Traditional scanning probe microscopes rely on piezoelectric tubes of centimeter size to move the probe. In future scanning probe systems, the large actuators will be replaced with cantilevers where the actuators are integrated on the beam. These will be combined in arrays of multiple cantilevers with MEMS as the key technology for the fabrication process.
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Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792384660 ISBN 13: 9780792384663
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Introduces the principles of scanning probe systems focusing on techniques for increasing speed. This book includes information on the characteristics and limitations of machines as well as the properties of the systems that follow in the future. Series: Microsystems. Num Pages: 159 pages, biography. BIC Classification: PDND; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed (Microsystems)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 170,25
Spedizione EUR 28,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Bringing Scanning Probe Microscopy up to Speed (Microsystems, 3)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 176,20
Spedizione EUR 28,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed introduces the principles of scanning probe systems with particular emphasis on techniques for increasing speed. The authors include useful information on the characteristics and limitations of curr.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bringing Scanning Probe Microscopy Up to Speed introduces the principles of scanning probe systems with particular emphasis on techniques for increasing speed. The authors include useful information on the characteristics and limitations of curr.
