Marienfeld daniel (6 risultati)
New Methods Of Concurrent Checking (frontiers In Electronic Testing)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
- Rilegato
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
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EUR 73,80
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Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
- Rilegato
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
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New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
- Rilegato
Da: SMASS Sellers, IRVING, TX, U.S.A.SMASS Sellers
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New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing, 42)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2008
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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EUR 116,53
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Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, 2010
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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EUR 92,27
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designed…The only book which desc.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands, 2008
- Rilegato
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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EUR 93,00
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designed…The only book which desc.
