Michael l bushnell (47 risultati)
- Rilegato
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.Zubal-Books, Since 1961
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 13,62
EUR 3,91 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Condizione: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, Aug. 3 (weekend sale item)* 463 pp., hardcover, ex library, else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additio…nal duties, taxes, or fees required by recipient's country.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 96,55
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Condizione: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 90,32
EUR 14,60 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Paperback. Condizione: Brand New. 482 pages. 9.00x6.00x1.09 inches. In Stock.
- Altre immagini
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 115,62
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Buono
EUR 110,73
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Condizione: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 116,57
EUR 13,99 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 116,57
EUR 13,99 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.
- Altre immagini
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 116,56
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 131,17
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 116,56
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
- Rilegato
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 132,44
EUR 9,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. This text describes justification equivalence, in which duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. As well as covering the theoretical work, the book deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. Series: Frontie…rs in Electronic Testing. Num Pages: 160 pages, 1, black & white illustrations. BIC Classification: TBMM; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1995. Hardback. . . . .
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Rilegato
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 133,16
EUR 9,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . .
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 142,80
EUR 3,46 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 164.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 143,62
EUR 3,46 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 164.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2013
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 146,90
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 141,19
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2013
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 141,19
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 141,96
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 156,37
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 156,59
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Altre immagini
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 164,03
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 156,53
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
- Rilegato
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 166,17
EUR 9,11 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. This text describes justification equivalence, in which duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. As well as covering the theoretical work, the book deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. Series: Frontie…rs in Electronic Testing. Num Pages: 160 pages, 1, black & white illustrations. BIC Classification: TBMM; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Rilegato
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 166,88
EUR 9,11 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . . Books ship from…the US and Ireland.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, Humana, 2011
- Brossura
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 112,77
EUR 61,30 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Branch-and-bound search has been known for a long time and has been widely used in solving a variety of problems in computer-aided design (CAD) and many important optimization problems. In many applications, the classic branch-and-bound search met…hods perform duplications of computations, or rely on the search decision trees which keep track of the branch-and-bound search processes. In CAD and many other technical fields, the computational cost of constructing branch-and-bound search decision trees in solving large scale problems is prohibitive and duplications of computations are intolerable. Efficient branch-and-bound methods are needed to deal with today's computational challenges. Efficient branch-and-bound methods must not duplicate computations. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design describes an efficient branch-and-bound method for logic justification, which is fundamental to automatic test pattern generation (ATPG), redundancy identification, logic synthesis, minimization, verification, and other problems in CAD. The method is called justification equivalence, based on the observation that justification processes may share identical subsequent search decision sequences. With justification equivalence, duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design consists of two parts. The first part, containing the first three chapters, provides the theoretical work. The second part deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. This book is particularly useful to readers who are interested in the design and test of digital circuits.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, Springer US, 1995
- Rilegato
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 112,77
EUR 62,09 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Branch-and-bound search has been known for a long time and has been widely used in solving a variety of problems in computer-aided design (CAD) and many important optimization problems. In many applications, the classic branch-and-bound search methods pe…rform duplications of computations, or rely on the search decision trees which keep track of the branch-and-bound search processes. In CAD and many other technical fields, the computational cost of constructing branch-and-bound search decision trees in solving large scale problems is prohibitive and duplications of computations are intolerable. Efficient branch-and-bound methods are needed to deal with today's computational challenges. Efficient branch-and-bound methods must not duplicate computations. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design describes an efficient branch-and-bound method for logic justification, which is fundamental to automatic test pattern generation (ATPG), redundancy identification, logic synthesis, minimization, verification, and other problems in CAD. The method is called justification equivalence, based on the observation that justification processes may share identical subsequent search decision sequences. With justification equivalence, duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design consists of two parts. The first part, containing the first three chapters, provides the theoretical work. The second part deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. This book is particularly useful to readers who are interested in the design and test of digital circuits.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 192,50
EUR 17,52 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2011
- Brossura
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 182,88
EUR 29,20 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Paperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 182,88
EUR 29,20 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
- Altre immagini
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1995
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 214,56
EUR 2,29 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.






















