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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications
Libro 77 di 98: Optical Science and EngineeringDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Fundamental Issues and Applications of Shock-Wave and High-Strain-Rate Phencmena: Proceedings of the 2000 International Conference on Fundamental Issues and Applications of Shock-Wave and High-Strain-Rate Phenomena (Explomet '2000
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 681 pages. 10.25x7.50x1.50 inches. In Stock.
