Okano j edt (2 risultati)
Secondary Ion Mass Spectrometry Sims IV : Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
Benninghoven, A. (EDT); Okano, J. (EDT); Shimizu, R. (EDT); Werner, H. W. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Secondary Ion Mass Spectrometry Sims IV : Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
Benninghoven, A. (EDT); Okano, J. (EDT); Shimizu, R. (EDT); Werner, H. W. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2012
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