Olkin i edt (8 risultati)

Collected Papers III : Design of Experiments
Kiefer, Jack C.; Brown, L. D. (EDT); Olkin, I. (EDT); Sacks, J. (EDT); Wynn, H. P. (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 57,94
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.

Characterization Problems Associated With the Exponential Distribution
Azlarov, T. A.; Volodin, N. A.; Olkin, I. (EDT); Stein, M. (TRN)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 63,40
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Collected Papers III : Design of Experiments
Kiefer, Jack C.; Brown, L. D. (EDT); Olkin, I. (EDT); Sacks, J. (EDT); Wynn, H. P. (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 64,88
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Characterization Problems Associated With the Exponential Distribution
Azlarov, T. A.; Volodin, N. A.; Olkin, I. (EDT); Stein, M. (TRN)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 75,62
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.

Measuring Risk in Complex Stochastic Systems
Franke, Jurgen (EDT); Hardle, Wolfgang (EDT); Stahl, Gerhard (EDT); Bickel, P. (EDT); Diggle, P. (EDT); Fienberg, S. (EDT); Krickeberg, K. (EDT); Olkin, I. (EDT); Wermuth, N. (EDT); Zeger, S. (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 75,97
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.

Linear Mixed Models for Longitudinal Data
Verbeke, Geert; Molenberghs, Geert; Bickel, P. (EDT); Diggle, P. (EDT); Fienberg, S. (EDT); Krickeberg, K. (EDT); Olkin, I. (EDT); Wermuth, N. (EDT); Zeger, S. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 171,49
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.

Measuring Risk in Complex Stochastic Systems
Franke, Jurgen (EDT); Hardle, Wolfgang (EDT); Stahl, Gerhard (EDT); Bickel, P. (EDT); Diggle, P. (EDT); Fienberg, S. (EDT); Krickeberg, K. (EDT); Olkin, I. (EDT); Wermuth, N. (EDT); Zeger, S. (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 180,17
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

Linear Mixed Models for Longitudinal Data
Verbeke, Geert; Molenberghs, Geert; Bickel, P. (EDT); Diggle, P. (EDT); Fienberg, S. (EDT); Krickeberg, K. (EDT); Olkin, I. (EDT); Wermuth, N. (EDT); Zeger, S. (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2000
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 181,85
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.