Panel on statistical methods for testing and evaluating defense systems (8 risultati)
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Condizione: New. Editor(s): Cohen, Michael L.; Steffey, Duane L.; Rolph, John E. Num Pages: 180 pages, Illustrations. BIC Classification: JWM; PBT. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 280 x 216. . . 1999. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Condizione: New. Editor(s): Cohen, Michael L.; Steffey, Duane L.; Rolph, John E. Num Pages: 180 pages, Illustrations. BIC Classification: JWM; PBT. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 280 x 216. . . 1999. Paperback. . . . .
