Paul k predecki (95 risultati)
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 29
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & John Faber, Jr., & Ron Jenkins, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 31
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 30
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden, John C. Russ & Ron Jenkins & John V. Gilfrich,, Editors
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Hardcover. Condizione: Very Good. Hardcover; Volume 29 only; proceedings of the 34th annual conference on App lications of X-Ray Analysis, held August 5-9, 1985, in Snowmass, Colorado; light fading and shelf wear to exterior; light stain at top page corners; f ade spots to endpapers; in very good condition with clean text, firm…bindin g. Dust jacket shows scuffing, light soiling, and a few small edge tears.
Advances in X-Ray Analysis, Vol. 27
Barrett, Charles S. & Paul K. Predecki & Donald E. Leyden & John C. Russ & Jerome B. Cohen, Editors
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ra…y fluorescence at the confer ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect~re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD…Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
