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INTEGRATED CIRCUIT METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL VI
Editore: SPIE - The International Society for Optical Engineering, Bellinghman, WA, 1992
Da: J. Wyatt Books, Ottawa, ON, Canada
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Spedito da Canada a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: Very Good. 697 pages in very good condition. SPIE Proceedings Series Volume 1673. Pages are clean and unmarked with black and white diagrams and illustrations throughout. Page edges are lightly smudged. Bound in yellow wraps with black titles. Lightly wrinkled and smudged on the spine, light wear around the edges. VG Size: 8 1/2 x 11. Book.
