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raji mohsen (40 risultati)
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,38
Spedizione EUR 2,30
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 61,11
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,91
Spedizione EUR 2,30
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,28
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,28
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,27
Spedizione EUR 17,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st ed. 2021 edition NO-PA16APR2015-KAP.
-
Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 66,39
Spedizione EUR 17,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,82
Spedizione EUR 11,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 127 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 98,62
Spedizione EUR 2,30
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,67
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,67
Spedizione EUR 13,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,23
Spedizione EUR 2,30
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,66
Spedizione EUR 17,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 99,32
Spedizione EUR 17,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
EUR 53,49
Spedizione EUR 61,04
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
EUR 53,49
Spedizione EUR 61,83
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 124.
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Lifetime Reliability-aware Design Of Int
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 118,07
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 137,82
Spedizione EUR 11,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 139,78
Spedizione EUR 11,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-aware Design Of Int
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
EUR 81,70
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits | Mohsen Raji (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783031153471 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing Okt 2021, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques. 128 pp. Englisch.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing Okt 2020, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques. 128 pp. Englisch.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 74,24
Spedizione EUR 4,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 74,24
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 77,09
Spedizione EUR 7,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 77,62
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.
