Samples j w (12 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Research & Education Association February 2007, 2007
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) w/CD-ROM (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
N. U. Ahmed; A. Al-Khafaji; S. Balachandran; John M. Cimbala; L. Friel; V. Gerez; T. Huddleston; R. A. Ibrahim; A. K. Kaw; S. Malasri; M. R. Muller; Jonathan Ottenstein; E. Ozokwelu; Y. K. Purandare; Randall Raus M.S.; G. Ray; N. E. Rikli; J. W. Samples; L. Simonson; Engineering Study Guides
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Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.ThriftBooks-Atlanta
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) w/CD-ROM (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
N. U. Ahmed; A. Al-Khafaji; S. Balachandran; John M. Cimbala; L. Friel; V. Gerez; T. Huddleston; R. A. Ibrahim; A. K. Kaw; S. Malasri; M. R. Muller; Jonathan Ottenstein; E. Ozokwelu; Y. K. Purandare; Randall Raus M.S.; G. Ray; N. E. Rikli; J. W. Samples; L. Simonson; Engineering Study Guides
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AP Chemistry (REA) (Advanced Placement (AP) Test Preparation)
Kevin R. Reel; P. E. Dumas; R. M. Fikar; J. W. Samples; Jay M. Templin; W. C. Uhland
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AP Chemistry (REA) (Advanced Placement (AP) Test Preparation)
Kevin R. Reel; P. E. Dumas; R. M. Fikar; J. W. Samples; Jay M. Templin; W. C. Uhland
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Paperback. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
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Da: Goodwill Books, Hillsboro, OR, U.S.A.Goodwill Books
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EUR 9,36
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Condizione: acceptable. Fairly worn, but readable and intact. If applicable: Dust jacket, disc or access code may not be included.
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Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.Better World Books
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Condizione: Very Good. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
GRE Mathematics (GRE Test Preparation)
Agrawal, O. P.; Elsner, T.; Robertson, J.; Samples, J. W.; Wilson, J. T.; GRE
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Da: Greenworld Books, arlington, TX, U.S.A.Greenworld Books
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Condizione: very_good. Fast Free Shipping â" Very Good condition book with a firm cover and clean pages. Shows normal use and some light wear or limited notes markings. A solid, nice copy to enjoy.
GRE Mathematics (GRE Test Preparation)
Agrawal, O. P.,Elsner, T.,Robertson, J.,Samples, J. W.,Wilson, J. T.,GRE
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Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.HPB-Red
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.
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Da: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, U.S.A.SHIMEDIA
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FE - EIT: AM (Engineer in Training Exam) w/CD-ROM (Engineering (FE/EiT) Test Preparation)
Ahmed, N. U.; Al-Khafaji, A.; Balachandran, S.; Cimbala, John M.; Friel, L.; Gerez, V.; Huddleston, T.; Ibrahim, R. A.; Kaw, A. K.; Malasri, S.; Muller, M. R.; Ottenstein, Jonathan; Ozokwelu, E.; Purandare, Y. K.; Raus M.S., Randall; Ray, G.; Rikli, N. E.; Samples, J. W.; Simonson, L.; Engineering Study Guides
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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
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paperback. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
