Saxena sobhit edt (16 risultati)

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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2022
0367538369 / 9780367538361
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2022
0367538369 / 9780367538361
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2022
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2022
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Machine Learning Algorithms for Signal and Image Processing
Tripathi, Suman Lata (EDT); Ghai, Deepika (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Chanda, Manash (EDT); Alazab, Mamoun (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-IEEE Press, 2022
1119861829 / 9781119861829
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Machine Learning Algorithms for Signal and Image Processing
Tripathi, Suman Lata (EDT); Ghai, Deepika (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Chanda, Manash (EDT); Alazab, Mamoun (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-IEEE Press, 2022
1119861829 / 9781119861829
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Machine Learning Algorithms for Signal and Image Processing
Tripathi, Suman Lata (EDT); Ghai, Deepika (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Chanda, Manash (EDT); Alazab, Mamoun (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-IEEE Press, 2022
1119861829 / 9781119861829
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2020
0367492822 / 9780367492823
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2020
0367492822 / 9780367492823
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2020
0367492822 / 9780367492823
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Machine Learning Algorithms for Signal and Image Processing
Tripathi, Suman Lata (EDT); Ghai, Deepika (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Chanda, Manash (EDT); Alazab, Mamoun (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-IEEE Press, 2022
1119861829 / 9781119861829
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2020
0367492822 / 9780367492823
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Micro and Nano Semiconductor Devices for Digital, Analog and Sensor Design
Tripathi, Suman Lata (EDT); Gupta, Vrinda (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Upadhyay, Shipra (EDT); Ghosh, Sudip (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-Scrivener, 2026
1394307314 / 9781394307319
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Micro and Nano Semiconductor Devices for Digital, Analog and Sensor Design
Tripathi, Suman Lata (EDT); Gupta, Vrinda (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Upadhyay, Shipra (EDT); Ghosh, Sudip (EDT)
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Editore: Wiley-Scrivener, 2026
1394307314 / 9781394307319
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Micro and Nano Semiconductor Devices for Digital, Analog and Sensor Design
Tripathi, Suman Lata (EDT); Gupta, Vrinda (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Upadhyay, Shipra (EDT); Ghosh, Sudip (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Wiley-Scrivener, 2026
1394307314 / 9781394307319
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Micro and Nano Semiconductor Devices for Digital, Analog and Sensor Design
Tripathi, Suman Lata (EDT); Gupta, Vrinda (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Upadhyay, Shipra (EDT); Ghosh, Sudip (EDT)
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1394307314 / 9781394307319
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