Singh madan edt (12 risultati)
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 192,37
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 192,45
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
System Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches : Fault Diagnostics and Reliability Proceedings of the First European Workshop on Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches, Island of Rhodes, Greece, August 31-september 3, 1986
Tzafestas, S. G. (EDT); Singh, Madan (EDT); Schmidt, Günther (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 192,45
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
System Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches : Knowledge-based and Fault-tolerant Techniques Proceedings of the First European Workshop on Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches, Island of Rhodes, Greece, August 31-september 3, 1986
Tzafestas, S. G. (EDT); Singh, Madan (EDT); Schmidt, Günther (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 239,04
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 239,04
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 250,13
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Multifunctional Nanocarriers
Mehra, Neelesh Kumar (EDT); Srivastava, Saurabh (EDT); Madan, Jitender (EDT); Singh, Pankaj Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2022
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 260,19
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Multifunctional Nanocarriers
Mehra, Neelesh Kumar (EDT); Srivastava, Saurabh (EDT); Madan, Jitender (EDT); Singh, Pankaj Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2022
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 267,75
EUR 17,65 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Multifunctional Nanocarriers
Mehra, Neelesh Kumar (EDT); Srivastava, Saurabh (EDT); Madan, Jitender (EDT); Singh, Pankaj Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2022
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 270,23
EUR 17,65 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Multifunctional Nanocarriers
Mehra, Neelesh Kumar (EDT); Srivastava, Saurabh (EDT); Madan, Jitender (EDT); Singh, Pankaj Kumar (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2022
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 291,47
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
System Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches : Fault Diagnostics and Reliability Proceedings of the First European Workshop on Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches, Island of Rhodes, Greece, August 31-september 3, 1986
Tzafestas, S. G. (EDT); Singh, Madan (EDT); Schmidt, Günther (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 299,95
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
System Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches : Knowledge-based and Fault-tolerant Techniques Proceedings of the First European Workshop on Fault Diagnostics, Reliability and Related Knowledge-based Approaches, Island of Rhodes, Greece, August 31-september 3, 1986
Tzafestas, S. G. (EDT); Singh, Madan (EDT); Schmidt, Günther (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 374,85
EUR 2,35 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
