Stein alfred editor (4 risultati)
Quality Aspects in Spatial Data Mining
Stein, Alfred (Editor)/ Shi, Wenzhong (Editor)/ Bijker, Wietske (Editor)
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Oversize Paperback. Condizione: Very Good. Signed by Edward T. Stein, editor. 229 pages. 8 3/8"w x 10 3/4"h. Signed by Editor.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Pub, 2002
Serie: Remote Sensing and Digital Image Processing, Libro 2 di 18. Libro 2 di 18 - Remote Sensing and Digital Image Processing
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