Steven m durbin (77 risultati)
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Da: Better World Books: West, Reno, NV, U.S.A.Better World Books: West
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Condizione: Good. 7th Edition. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
Engineering Circuit Analysis
Kemmerly, Jack, Kemmerly, Jack E., Hayt, William H., Durbin, Steven M., Hayt, William Hart
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Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.Better World Books
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Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.HPB-Red
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Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Da: BooksRun, Philadelphia, PA, U.S.A.BooksRun
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Engineering Circuit Analysis, 10E
Jr; Jack E. Kemmerly, Jamie D. Phillips, Steven M. Durbin William H. Hayt
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ENGINEERING CIRCUIT ANALYSIS, 10E
JR WILLIAM H. HAYT , JACK E. KEMMERLY , JAMIE D. PHILLIPS , STEVEN M. DURBIN
Editore: MC GRAW HILL INDIA, 2024
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- Edizione Internazionale
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno UnitoUK BOOKS STORE
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Oxide Semiconductors and Thin Films: Volume 1494 (MRS Proceedings)
Schleife, André; Allen, Martin; Arnold, Craig B.; Durbin, Steven M.; Pryds, Nini; Schneider, Christof W.; Veal, Tim
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- Prima edizione
Da: RIVERLEE BOOKS, Waltham Cross, HERTS, Regno UnitoRIVERLEE BOOKS
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Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
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Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
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Condizione: New. pp. xiii + 305.
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Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.Better World Books
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Engineering Circuit Analysis (10th International Edition) ISBN : 9781266262494
Hayt, William H.; Kemmerly, Jack; Phillips, Jamie; Durbin, Steven M.
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Da: SellOnline2020, PLAISTOW, NH, U.S.A.SellOnline2020
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EUR 75,82
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Soft cover. Condizione: New. Brand New International Edition textbook. Some book may show sales disclaimer such as "Not for Sale or Restricted in US" on the cover page but it is absolutely legal to use in US or Canada. Ship from Multiple Locations, including Asia , Hong Kong ,Taiwan , US or Canada depend on stock location.
Engineering Circuit Analysis (9th International Edition) ISBN : 9781260084887
William H. Hayt Professor Emeritus; Jack Kemmerly; Jamie Phillips; Steven M. Durbin
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- Edizione Internazionale
Da: SellOnline2020, PLAISTOW, NH, U.S.A.SellOnline2020
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Soft cover. Condizione: New. Brand New International Edition textbook. Some book may show sales disclaimer such as "Not for Sale or Restricted in US" on the cover page but it is absolutely legal to use in US or Canada. Ship from Multiple Locations, including Asia , Hong Kong ,Taiwan , US or Canada depend on stock location.
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Da: SMASS Sellers, IRVING, TX, U.S.A.SMASS Sellers
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Condizione: New. pp. xiii + 305 Illus.
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Condizione: New. pp. xiii + 305.
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Da: Wrigley Books, Austin, TX, U.S.A.Wrigley Books
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EUR 90,19
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Hardcover. Condizione: very good. Used items may not include media like access codes or CDs. Fast shipping! Expedited orders take 1-3 business days! Media mail may take up to 5 business days.
Oxide Semiconductors and Thin Films
Schleife, Andre (EDT); Allen, Martin (EDT); Arnold, Craig B. (EDT); Durbin, Steven M. (EDT); Pryds, Nini (EDT)
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Condizione: New.
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Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
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EUR 93,77
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Condizione: New.
ISE Engineering Circuit Analysis
Hayt Professor Emeritus, William H./ Kemmerly, Jack/ Phillips, Jamie/ Durbin, Steven M.
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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EUR 86,01
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Paperback. Condizione: Brand New. 10 edition. 896 pages. 9.92x7.99x1.22 inches. In Stock.
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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
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EUR 101,12
EUR 6,03 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Condizione: New. In.
Oxide Semiconductors and Thin Films
Schleife, Andre (EDT); Allen, Martin (EDT); Arnold, Craig B. (EDT); Durbin, Steven M. (EDT); Pryds, Nini (EDT)
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 94,50
EUR 17,54 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Oxide Semiconductors and Thin Films
. Ed(s): Schleife, Andre; Allen, Martin; Arnold, Craig B.; Durbin, Steven; Pryds, Nini; Schneider, Christof W.; Veal, Tim D.
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 103,12
EUR 9,50 spedizioneSpedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Symposium Z, 'Oxide Semiconductors', and Symposium F, 'Oxide Thin Films for Renewable Energy Applications', held at the 2012 MRS Fall Meeting. Editor(s): Schleife, Andre; Allen, Martin; Arnold, Craig B.; Durbin, Steven; Pryds, Nini; Schneider, Christof W.; Veal, Tim D. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 318 pag…es, 266 b/w illus. 25 tables. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 160 x 230 x 28. Weight in Grams: 684. . 2013. Hardback. . . . .
