Suykens johan a k (105 risultati)
Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Cellular Neural Networks, Multi-Scroll Chaos And Synchronization (World Scientific Series on Nonlinear Science)
Yalcin, Mustak E.; Suykens, Johan A. K.; Vandewalle, Joos P. L.
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Editore: CRC Press, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Regularization, Optimization, Kernels, and Support Vector Machines
Suykens, Johan A. K. (EDT); Signoretto, Marco (EDT); Argyriou, Andreas (EDT)
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Editore: Taylor & Francis Ltd, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Suykens, Johan A. K. (Editor)/ Signoretto, Marco (Editor)/ Argyriou, Andreas (Editor)
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Editore: Chapman & Hall, 2020
Serie: Libro 7 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Suykens, Johan A. K.; Van Gestel, Tony; De Brabanter, Jos; De Moor, Bart; Vandewalle, Joos
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Hardcover. Condizione: New. No Jacket. Kluwer Academic Publishers (1996). HARDCOVER without dj. Book looks AsNew. 9.75"x6.5". be43050.
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Johan A K Suykens; Tony Van Gestel; Jos De Brabanter; Bart De Moor; Joos Vandewalle
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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