Taylor alexander r e edt (12 risultati)
Image Analysis for Moving Organ, Breast and Thoracic Images : Third International Workshop, RAMBO 2018, Fourth International Workshop, BIA 2018, and First International Workshop, TIA 2018, Held in Conjunction with MICCAI 2018, Granada, Spain, September 16 and 20, 2018, Proceedings
Kainz, Bernhard (EDT); Taylor, Zeike (EDT); Maicas, Gabriel (EDT); Beichel, Reinhard (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Image Analysis for Moving Organ, Breast and Thoracic Images : Third International Workshop, RAMBO 2018, Fourth International Workshop, BIA 2018, and First International Workshop, TIA 2018, Held in Conjunction with MICCAI 2018, Granada, Spain, September 16 and 20, 2018, Proceedings
Kainz, Bernhard (EDT); Taylor, Zeike (EDT); Maicas, Gabriel (EDT); Beichel, Reinhard (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Image Analysis for Moving Organ, Breast and Thoracic Images : Third International Workshop, RAMBO 2018, Fourth International Workshop, BIA 2018, and First International Workshop, TIA 2018, Held in Conjunction with MICCAI 2018, Granada, Spain, September 16 and 20, 2018, Proceedings
Kainz, Bernhard (EDT); Taylor, Zeike (EDT); Maicas, Gabriel (EDT); Beichel, Reinhard (EDT)
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Image Analysis for Moving Organ, Breast and Thoracic Images : Third International Workshop, RAMBO 2018, Fourth International Workshop, BIA 2018, and First International Workshop, TIA 2018, Held in Conjunction with MICCAI 2018, Granada, Spain, September 16 and 20, 2018, Proceedings
Kainz, Bernhard (EDT); Taylor, Zeike (EDT); Maicas, Gabriel (EDT); Beichel, Reinhard (EDT)
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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