Ubar (56 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: B E S Pub Co (edition Later Printing; First Printing), 1999
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the feather men ppb1st1997 TRUE sas memoir fair later killer elite movie sas vengeance on arab royal
Editore: penguin, 1997
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fair. fair.
Editore: Berlin VEB Verlag Technik, 1989
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kart.. 1. 1. Aufl., gr. 8°, S.: 216, Ill., kart., Ecken und Ränder bestoßen und fleckig, Seiten angegilbt und fleckig sonst gut erhalten, Sprache: Deutsch 0,340 gr.
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Editore: VEB Verlag Technik, Berlin, 1989, 1989
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215 S., 8°, Obrosch, 1. Auflg., mit 96 Bildern und 17 Tafeln, ehemaliges Bibliotheksexemplar, Stempel au Vs., Vorwort von den Herausgebern, sehr gut.
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Softcover. Condizione: Très bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Tome 1. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Volume 1. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity org…anizations.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Software-Based Self-Test with Decision Diagrams for Microprocessors | Raimund Ubar (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2018 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786137339473 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de…| Anbieter: preigu.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Ubar, Raimund (EDT); Raik, Jaan (EDT); Vierhaus, Heinrich Theodor (EDT)
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Ubar, Raimund (EDT); Raik, Jaan (EDT); Vierhaus, Heinrich Theodor (EDT)
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Ubar, Raimund (EDT); Raik, Jaan (EDT); Vierhaus, Heinrich Theodor (EDT)
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Ubar, Raimund (EDT); Raik, Jaan (EDT); Vierhaus, Heinrich Theodor (EDT)
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Paperback. Condizione: New. Illustrated.
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Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This is the first book that sums up test-related modeling of digital circuits and systems by a new structural-decision-diagrams model. The model represents structural and functional information jointly and opens a new area of research.The book introduces and discusses applications of two ty…pes of structural decision diagrams (DDs): low-level, structurally synthesized binary DDs (SSBDDs) and high-level DDs (HLDDs) that enable diagnostic modeling of complex digital circuits and systems.Topics and features:Provides the definition, properties and techniques for synthesis, compression and optimization of SSBDDs and HLDDsProvides numerous working examples that illustrate the key points of the textDescribes applications of SSBDDs and HLDDs for various electronic design automation (EDA) tasks, such as logic-level fault modeling and simulation, multi-valued simulation, timing-critical path identification, and test generationDiscusses the advantages of the proposed model to traditional binary decision diagrams and other traditional design representationsCombines SSBDDs with HLDDs for multi-level representation of digital systems for enabling hierarchical and cross-level solving of complex test-related tasksThis unique book is aimed at researchers working in the fields of computer science and computer engineering, focusing on test, diagnosis and dependability of digital systems. It can also serve as a reference for graduate- and advanced undergraduate-level computer engineering and electronics courses.Three authors are affiliated with the Dept. of Computer Systems at the Tallinn University of Technology, Estonia: Raimund Ubar is a retired Professor, Jaan Raik and Maksim Jenihhin are tenured Professors. Artur Jutman, PhD, is a researcher at the same university and the CEO of Testonica Lab Ltd., Estonia. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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- Edizione Internazionale
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Condizione: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if t…he Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Hardcover. Condizione: Brand New. 608 pages. 9.25x6.10x1.26 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Structural Decision Diagrams in Digital Test | Theory and Applications | Raimund Ubar (u. a.) | Taschenbuch | Computer Science Foundations and Applied Logic | xiii | Englisch | 2025 | Springer | EAN 9783031447365 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Basel AG in Springer Science + Business M…edia, Heidelberger Platz 3, 14197 Berlin, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the first book that sums up test-related modeling of digital circuits and systems by a new structural-decision-diagrams model. The model represents structural and functional information jointly and opens a new area of research.The book introduces… and discusses applications of two types of structural decision diagrams (DDs): low-level,structurally synthesized binary DDs (SSBDDs)andhigh-level DDs (HLDDs)that enable diagnostic modeling of complex digital circuits and systems.Topics and features:Provides the definition, properties and techniques for synthesis, compression and optimization of SSBDDs and HLDDsProvides numerous working examples that illustrate the key points of the textDescribes applications of SSBDDs and HLDDs for various electronic design automation (EDA) tasks, such as logic-level fault modeling and simulation, multi-valued simulation, timing-critical path identification, and test generationDiscusses the advantages of the proposed model to traditional binary decision diagrams and other traditional design representationsCombines SSBDDs with HLDDs for multi-level representation of digital systems for enabling hierarchical and cross-level solving of complex test-related tasksThis unique book is aimed at researchers working in the fields of computerscience and computer engineering, focusing on test, diagnosis and dependability of digital systems. It can also serve as a reference for graduate- and advanced undergraduate-level computer engineering and electronics courses.Three authors are affiliated with the Dept. of Computer Systems at the Tallinn University of Technology, Estonia:Raimund Ubaris a retired Professor,Jaan RaikandMaksim Jenihhinare tenured Professors.Artur Jutman, PhD, is a researcher at the same university and the CEO of Testonica Lab Ltd., Estonia.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Switzerland, Springer Nature Switzerland, 2025
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EUR 235,39
EUR 65,13 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the first book that sums up test-related modeling of digital circuits and systems by a new structural-decision-diagrams model. The model represents structural and functional information jointly and opens a new area of research.The book int…roduces and discusses applications of two types of structural decision diagrams (DDs): low-level,structurally synthesized binary DDs (SSBDDs)andhigh-level DDs (HLDDs)that enable diagnostic modeling of complex digital circuits and systems.Topics and features:Provides the definition, properties and techniques for synthesis, compression and optimization of SSBDDs and HLDDsProvides numerous working examples that illustrate the key points of the textDescribes applications of SSBDDs and HLDDs for various electronic design automation (EDA) tasks, such as logic-level fault modeling and simulation, multi-valued simulation, timing-critical path identification, and test generationDiscusses the advantages of the proposed model to traditional binary decision diagrams and other traditional design representationsCombines SSBDDs with HLDDs for multi-level representation of digital systems for enabling hierarchical and cross-level solving of complex test-related tasksThis unique book is aimed at researchers working in the fields of computerscience and computer engineering, focusing on test, diagnosis and dependability of digital systems. It can also serve as a reference for graduate- and advanced undergraduate-level computer engineering and electronics courses.Three authors are affiliated with the Dept. of Computer Systems at the Tallinn University of Technology, Estonia:Raimund Ubaris a retired Professor,Jaan RaikandMaksim Jenihhinare tenured Professors.Artur Jutman, PhD, is a researcher at the same university and the CEO of Testonica Lab Ltd., Estonia.
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EUR 342,12
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