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Brilliant and Crazy Inventions (Megascope Series)
Lingua: Inglese
Editore: B E S Pub Co (edition Later Printing; First Printing), 1999
ISBN 10: 0764151835 ISBN 13: 9780764151835
Da: BooksRun, Philadelphia, PA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Very Good. Later Printing; First Printing. With dust jacket. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
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hardcover. Condizione: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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the feather men ppb1st1997 TRUE sas memoir fair later killer elite movie sas vengeance on arab royal
Editore: penguin, 1997
Da: forest primeval, Cherry tree, PA, U.S.A.
Valutazione del venditore 2 su 5 stelle
Prima edizione
fair. fair.
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Fehler in Automaten,
Editore: Berlin VEB Verlag Technik, 1989
Da: Grammat Antiquariat, Oberbarnim, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 12,00
Spedizione EUR 13,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellokart., 1. 1. Aufl., gr. 8°, S.: 216, Ill., kart., Ecken und Ränder bestoßen und fleckig, Seiten angegilbt und fleckig sonst gut erhalten, Sprache: Deutsch 0,340 gr.
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EUR 4,36
Spedizione EUR 10,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: very good. Gut/Very good: Buch bzw. Schutzumschlag mit wenigen Gebrauchsspuren an Einband, Schutzumschlag oder Seiten. / Describes a book or dust jacket that does show some signs of wear on either the binding, dust jacket or pages.
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Fehler in Automaten
Da: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 4,00
Spedizione EUR 24,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloUnbekannt. Condizione: Gut. 216 S. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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Fehler in Automaten
Editore: VEB Verlag Technik, Berlin, 1989, 1989
ISBN 10: 3341006834 ISBN 13: 9783341006832
Da: Versandantiquariat Kerzemichel, Wittenberge, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 10,00
Spedizione EUR 29,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello215 S., 8°, Obrosch, 1. Auflg., mit 96 Bildern und 17 Tafeln, ehemaliges Bibliotheksexemplar, Stempel au Vs., Vorwort von den Herausgebern, sehr gut.
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DESIGN AND TEST TECHNOLOGY FOR DEPENDABLE SYSTEMS ON CHIP
Lingua: Inglese
Editore: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Software-Based Self-Test with Decision Diagrams for Microprocessors
Lingua: Inglese
Editore: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2018
ISBN 10: 6137339475 ISBN 13: 9786137339473
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 113,03
Spedizione EUR 11,46
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 180 pages. 8.66x5.91x0.41 inches. In Stock.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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STRUCTURAL DECISION DIAGRAMS IN DIGITAL TEST THEORY AND APPLICATIONS (HB 2024)
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Lingua: Inglese
Editore: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,26
Spedizione EUR 13,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Lingua: Inglese
Editore: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 194,71
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Lingua: Inglese
Editore: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,25
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Lingua: Inglese
Editore: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 187,67
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test: Theory and Applications (Computer Science Foundations and Applied Logic)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st ed. 2024 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 178,24
Spedizione EUR 28,65
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Lingua: Inglese
Editore: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 211,04
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test: Theory and Applications (Computer Science Foundations and Applied Logic)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 206,13
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test: Theory and Applications (Computer Science Foundations and Applied Logic)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 210,20
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test (Hardcover)
Lingua: Inglese
Editore: Birkhauser Verlag AG, Basel, 2024
ISBN 10: 3031447336 ISBN 13: 9783031447334
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This is the first book that sums up test-related modeling of digital circuits and systems by a new structural-decision-diagrams model. The model represents structural and functional information jointly and opens a new area of research.The book introduces and discusses applications of two types of structural decision diagrams (DDs): low-level, structurally synthesized binary DDs (SSBDDs) and high-level DDs (HLDDs) that enable diagnostic modeling of complex digital circuits and systems.Topics and features:Provides the definition, properties and techniques for synthesis, compression and optimization of SSBDDs and HLDDsProvides numerous working examples that illustrate the key points of the textDescribes applications of SSBDDs and HLDDs for various electronic design automation (EDA) tasks, such as logic-level fault modeling and simulation, multi-valued simulation, timing-critical path identification, and test generationDiscusses the advantages of the proposed model to traditional binary decision diagrams and other traditional design representationsCombines SSBDDs with HLDDs for multi-level representation of digital systems for enabling hierarchical and cross-level solving of complex test-related tasksThis unique book is aimed at researchers working in the fields of computer science and computer engineering, focusing on test, diagnosis and dependability of digital systems. It can also serve as a reference for graduate- and advanced undergraduate-level computer engineering and electronics courses.Three authors are affiliated with the Dept. of Computer Systems at the Tallinn University of Technology, Estonia: Raimund Ubar is a retired Professor, Jaan Raik and Maksim Jenihhin are tenured Professors. Artur Jutman, PhD, is a researcher at the same university and the CEO of Testonica Lab Ltd., Estonia. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Edizione InternazionaleDESIGN & TEST TECHNOLOGY FOR DEPENDABLE SYSTEMS ON CHIP
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 244,53
Spedizione EUR 6,86
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New ! Fast Delivery "International Edition " and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 4-6 Working days .and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test: Theory and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Nature New York Inc, 2024
ISBN 10: 3031447336 ISBN 13: 9783031447334
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 236,06
Spedizione EUR 17,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 608 pages. 9.25x6.10x1.26 inches. In Stock.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test : Theory and Applications
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 257,99
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test : Theory and Applications
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 279,89
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 202,80
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Structural Decision Diagrams in Digital Test | Theory and Applications | Raimund Ubar (u. a.) | Taschenbuch | Computer Science Foundations and Applied Logic | xiii | Englisch | 2025 | Springer | EAN 9783031447365 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Basel AG in Springer Science + Business Media, Heidelberger Platz 3, 14197 Berlin, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Structural Decision Diagrams in Digital Test: Theory and Applications (Computer Science Foundations and Applied Logic)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
