Ul hamid anwar (29 risultati)
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Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemi…stry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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Condizione: New. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a .
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Hardcover. Condizione: Brand New. 402 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Buch. Condizione: Neu. Neuware - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic m…aterials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2004
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. AbbasFilling a gap in the literature, Practical Engineering Failure Analysis vividly demonstrates the correct methodology to conduct successful failure analyses, as well as offering the background nec.
Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2004
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Condizione: New.
Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2004
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EUR 601,71
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Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2004
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. Abbas, Lynn Faulkner
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press 2004-08-30, 2004
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
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Practical Engineering Failure Analysis
Tawancy, Hani M.; Ul-Hamid, Anwar (EDT); Nureddin, Abbas M.; Abbas, Nureddin Mohamed
Lingua: Inglese
Editore: CRC Press, 2004
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Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 2004
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. pp. 616 1st Edition.
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Group, 2004
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Condizione: New. pp. 616.
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Editore: CRC Press, 2004
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Da: Antiquariaat A. Kok & Zn. B.V., Amsterdam, Paesi BassiAntiquariaat A. Kok & Zn. B.V.
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Aggiungi al carrello[CAm], Springer International Publishing, [2023]. XXII,402 pp. 122 b./w. ills & 98 ills in col. Orig. hardcover (boards). 8vo. [ISBN: 978-3-319-98481-0]. - As new !This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no backgroun…d in the area. - Corrected 2023 edition. First published in 2023.
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Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
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Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface str…ucture and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. 424 pp. Englisch.
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Anwar Ul-Hamid received his B.Sc. in Metallurgical Engineering and Materials Science at the University of Engineering & Technology in Lahore, Pakistan in 1991. He received his Ph.D, for Oxidation of High…Temperature alloys/Analytical Electro.
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Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structu…re and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds¿including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academiäemphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 424 pp. Englisch.
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