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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 402.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,13
Spedizione EUR 14,05
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,13
Spedizione EUR 14,05
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,12
Spedizione EUR 17,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,39
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
EUR 104,20
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy | Anwar Ul-Hamid | Taschenbuch | xxii | Englisch | 2019 | Springer Nature Switzerland | EAN 9783030074982 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
EUR 117,69
Spedizione EUR 63,20
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 170,58
Spedizione EUR 17,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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A Beginners* Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 178,77
Spedizione EUR 29,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. New. book.
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EUR 177,54
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a .
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 240,61
Spedizione EUR 14,66
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 402 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin, Springer, 2018
ISBN 10: 3319984810 ISBN 13: 9783319984810
EUR 219,07
Spedizione EUR 64,12
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This book provides a concise and accessible introduction to the essentials of SEM includes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key concepts highlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniques offers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds.
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EUR 407,69
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Hani M. Tawancy, Anwar Ul-Hamid, Nureddin M. AbbasFilling a gap in the literature, Practical Engineering Failure Analysis vividly demonstrates the correct methodology to conduct successful failure analyses, as well as offering the background nec.
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 459,00
Spedizione EUR 29,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 519,58
Spedizione EUR 17,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 519,58
Spedizione EUR 17,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Practical Engineering Failure Analysis (Mechanical Engineering)
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 576,02
Spedizione EUR 18,17
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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Practical Engineering Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Practical Eng Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 616 1st Edition.
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Practical Eng Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 750,19
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 616.
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A beginners' guide to scanning electron microscopy. [Corrected edition].
Da: Antiquariaat A. Kok & Zn. B.V., Amsterdam, Paesi Bassi
Membro dell'associazione: ILAB NVVA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 104,50
Spedizione EUR 28,27
Spedito da Paesi Bassi a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrello[CAm], Springer International Publishing, [2023]. XXII,402 pp. 122 b./w. ills & 98 ills in col. Orig. hardcover (boards). 8vo. [ISBN: 978-3-319-98481-0]. - As new !This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. - Corrected 2023 edition. First published in 2023.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 94,25
Spedizione EUR 6,80
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,69
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds-including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academia-emphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy explains instrumentation, operation, image interpretation and sample preparation in a wide ranging yet succinct and practical text, treating the essential theory of specimen-beam interaction and image formation in a manner that can be effortlessly comprehended by the novice SEM user. This bookprovides a concise and accessible introduction to the essentials of SEMincludes a large number of illustrations specifically chosen to aid readers' understanding of key conceptshighlights recent advances in instrumentation, imaging and sample preparation techniquesoffers examples drawn from a variety of applications that appeal to professionals from diverse backgrounds. 424 pp. Englisch.
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A Beginners\ Guide to Scanning Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
EUR 98,54
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Anwar Ul-Hamid received his B.Sc. in Metallurgical Engineering and Materials Science at the University of Engineering & Technology in Lahore, Pakistan in 1991. He received his Ph.D, for Oxidation of High Temperature alloys/Analytical Electro.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 153,37
Spedizione EUR 7,62
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 402.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 152,74
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 402.
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A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030074986 ISBN 13: 9783030074982
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,69
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book was developed with the goal of providing an easily understood text for those users of the scanning electron microscope (SEM) who have little or no background in the area. The SEM is routinely used to study the surface structure and chemistry of a wide range of biological and synthetic materials at the micrometer to nanometer scale. Ease-of-use, typically facile sample preparation, and straightforward image interpretation, combined with high resolution, high depth of field, and the ability to undertake microchemical and crystallographic analysis, has made scanning electron microscopy one of the most powerful and versatile techniques for characterization today. Indeed, the SEM is a vital tool for the characterization of nanostructured materials and the development of nanotechnology. However, its wide use by professionals with diverse technical backgrounds¿including life science, materials science, engineering, forensics, mineralogy, etc., and in various sectors of government, industry, and academiäemphasizes the need for an introductory text providing the basics of effective SEM imaging.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 424 pp. Englisch.
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Practical Eng Failure Analysis
Libro 57 di 115: Mechanical EngineeringDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 677,11
Spedizione EUR 7,62
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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