Vain juri edt (8 risultati)

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Advances in Model and Data Engineering in the Digitalization Era : Medi 2021 International Workshops: Detect, Sias, Csmml, Bioc, Heda, Tallinn, Estonia, June 21?23, 2021, Proceedings
Bellatreche, Ladjel (EDT); Chernishev, George (EDT); Corral, Antonio (EDT); Ouchani, Samir (EDT); Vain, Juri (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
Serie: Libro 423 di 578 - Communications in Computer and Information Science
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Advances in Model and Data Engineering in the Digitalization Era : Medi 2021 International Workshops: Detect, Sias, Csmml, Bioc, Heda, Tallinn, Estonia, June 21?23, 2021, Proceedings
Bellatreche, Ladjel (EDT); Chernishev, George (EDT); Corral, Antonio (EDT); Ouchani, Samir (EDT); Vain, Juri (EDT)
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Editore: Springer, 2021
Serie: Libro 423 di 578 - Communications in Computer and Information Science
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System Assurances : Modeling and Management
Johri, Prashant (EDT); Anand, Adarsh (EDT); Vain, Juri (EDT); Singh, Jagvinder (EDT); Quasim, Mohammad Tabrez (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Academic Press, 2022
Serie: Libro 21 di 24 - Emerging Methodologies and Applications in Modelling, Identification and Control
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System Assurances : Modeling and Management
Johri, Prashant (EDT); Anand, Adarsh (EDT); Vain, Juri (EDT); Singh, Jagvinder (EDT); Quasim, Mohammad Tabrez (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Academic Press, 2022
Serie: Libro 21 di 24 - Emerging Methodologies and Applications in Modelling, Identification and Control
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System Assurances : Modeling and Management
Johri, Prashant (EDT); Anand, Adarsh (EDT); Vain, Juri (EDT); Singh, Jagvinder (EDT); Quasim, Mohammad Tabrez (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Academic Press, 2022
Serie: Libro 21 di 24 - Emerging Methodologies and Applications in Modelling, Identification and Control
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System Assurances : Modeling and Management
Johri, Prashant (EDT); Anand, Adarsh (EDT); Vain, Juri (EDT); Singh, Jagvinder (EDT); Quasim, Mohammad Tabrez (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Academic Press, 2022
Serie: Libro 21 di 24 - Emerging Methodologies and Applications in Modelling, Identification and Control
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