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vikram iyengar (24 risultati)
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Till Death Do Us Part
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 3,20
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. v + 75.
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Till Death Do Us Part
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. v + 75 1st Edition.
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Test Resource Partitioning For System-on-a-chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,19
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,29
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,29
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Used. pp. 252.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 112,72
Spedizione EUR 17,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,96
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 114,28
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 128,54
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Used. pp. 252 Illus.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 130,21
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Used. pp. 252.
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 127,81
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 248.
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EUR 95,70
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip | Vikram Iyengar (u. a.) | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461354000 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 118,64
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 164,05
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 162,93
Spedizione EUR 62,66
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.
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The VLSI Handbook: 15 (Electrical Engineering Handbook)
Libro 28 di 32: Electrical Engineering HandbookDa: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 289,60
Spedizione EUR 17,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (eng)
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 86,24
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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EUR 92,27
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 147,73
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 248 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 148,89
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 248.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Libro 27 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 248 pp. Englisch.
