Vollertsen rolf (26 risultati)
Editore: Verlag Nürnberger Presse, Nürnberg, 1984
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Aggiungi al carrello96 S 21,2x14,3cm, illustr. Hardcover, Farbfotos auf Tafeln, sauberer Buchzustand.
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Editore: U. E. Sebald Druck und Verlag, 1993
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Gut. Illustrierter und folierter Pappband mit Titel auf Vorderdeckel und Rücken, gebunden, mit vielen ganzseitigen Farb-Foto-Bildern, am Schluß mit Bilderläuterungen, Quadratformat: 23,5x23,5 cm, 132 Seiten, guter Zustand. (intern: Völkerkunde).
Lingua: Tedesco
Editore: Nürnberg, Verlag Nürnberger Presse, ca.1984., 1984
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Aggiungi al carrello1 Bl., 96 S., 1 Bl. Mit 31 ganzseitigen Farbfotos und 2 Karten. Farbig illustr. OPpbd. - In sehr guter Erhaltung. 280 Gramm.
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Editore: Nürnberger Presse, Nürnberg,, 1993
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Editore: Verlag Nürnberger Presse, Nürnberg, 1983, 1983
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Editore: Nürnberg Nürnberger Presse Verlag ca, 1983
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Editore: Verlag Nürnberger Presse, 1993, 1993
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Da: Antiquariat am Münster G. u. O. Lowig, Heilsbronn, DE, GermaniaAntiquariat am Münster G. u. O. Lowig
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Lingua: Tedesco
Editore: Selbstverlag, Burgthann,, 1993
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Aggiungi al carrelloHardcover. 132 Seiten Zustand: keine Beschädigungen, keine Eintragungen, Rücken, Ecken, Kanten sehr gut. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 540.
Lingua: Tedesco
Editore: Selbstverlag, Burgthann,, 1985
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Da: Clerc Fremin, Steingaden, GermaniaClerc Fremin
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Aggiungi al carrelloHardcover. 96 Seiten Die Jahresangabe ist ungefähr. Zustand: keine Beschädigungen, keine Eintragungen, Rücken, Ecken, Kanten sehr gut. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 300.
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Editore: Selbstverlag, Burgthann, 1993
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Editore: Selbstverlag, Burgthann,, 1993
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Aggiungi al carrelloCondizione: sehr gut - gebraucht. Gebundene Ausgabe Sehr guter Zustand, ohne Namenseintrag Zustand: 2, sehr gut - gebraucht, Gebundene Ausgabe Selbstverlag, Burgthann, , 1993 , Wohin die Tropfen fallen oder: Baissimila, ce koroba! Notizen aus und über Mali, Vollertsen, Rolf.
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
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Editore: Verlag Nürnberger Presse um,, 1983
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
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Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
