Wang long edt (36 risultati)
Multidisciplinary Social Networks Research : International Conference, Misnc 2014, Kaohsiung, Taiwan, September 13-14, 2014. Proceedings
Chang, Weng-long (EDT); June, Jason J. (EDT); Lee, Chung-hong (EDT); Okuhara, Koji (EDT); Yang, Hsin-chang (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2014
Serie: Libro 119 di 578 - Communications in Computer and Information Science
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Multidisciplinary Social Networks Research : International Conference, Misnc 2014, Kaohsiung, Taiwan, September 13-14, 2014. Proceedings
Chang, Weng-long (EDT); June, Jason J. (EDT); Lee, Chung-hong (EDT); Okuhara, Koji (EDT); Yang, Hsin-chang (EDT)
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Editore: Springer, 2014
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Multidisciplinary Social Networks Research : International Conference, Misnc 2014, Kaohsiung, Taiwan, September 13-14, 2014. Proceedings
Chang, Weng-long (EDT); June, Jason J. (EDT); Lee, Chung-hong (EDT); Okuhara, Koji (EDT); Yang, Hsin-chang (EDT)
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Editore: Springer, 2014
Serie: Libro 119 di 578 - Communications in Computer and Information Science
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Multidisciplinary Social Networks Research : International Conference, Misnc 2014, Kaohsiung, Taiwan, September 13-14, 2014. Proceedings
Chang, Weng-long (EDT); June, Jason J. (EDT); Lee, Chung-hong (EDT); Okuhara, Koji (EDT); Yang, Hsin-chang (EDT)
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Editore: Springer, 2014
Serie: Libro 119 di 578 - Communications in Computer and Information Science
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Cutting-Edge Research on the Action Plan for Prevention and Control of Emerging Contaminants in China
Du, Ye (EDT); Li, Hai-xiang (EDT); Lu, Yun (EDT); Wei, Dong-bin (EDT); Wang, Wen-long (EDT)
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Cutting-Edge Research on the Action Plan for Prevention and Control of Emerging Contaminants in China
Du, Ye (EDT); Li, Hai-xiang (EDT); Lu, Yun (EDT); Wei, Dong-bin (EDT); Wang, Wen-long (EDT)
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Cutting-Edge Research on the Action Plan for Prevention and Control of Emerging Contaminants in China
Du, Ye (EDT); Li, Hai-xiang (EDT); Lu, Yun (EDT); Wei, Dong-bin (EDT); Wang, Wen-long (EDT)
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Cutting-Edge Research on the Action Plan for Prevention and Control of Emerging Contaminants in China
Du, Ye (EDT); Li, Hai-xiang (EDT); Lu, Yun (EDT); Wei, Dong-bin (EDT); Wang, Wen-long (EDT)
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Gpu Solutions to Multi-scale Problems in Science and Engineering
Yuen, David A. (EDT); Wang, Long (EDT); Chi, Xuebin (EDT); Johnsson, Lennart (EDT); Ge, Wei (EDT)
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Gpu Solutions to Multi-scale Problems in Science and Engineering
Yuen, David A. (EDT); Wang, Long (EDT); Chi, Xuebin (EDT); Johnsson, Lennart (EDT); Ge, Wei (EDT)
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Kam People of China : Turning Nineteen
Geary, D. Norman (EDT); Geary, Ruth B.; Chaoquan, Ou; Yaohong, Long; Daren, Jiang; Jiying, Wang
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Kam People of China : Turning Nineteen
Geary, D. Norman (EDT); Geary, Ruth B.; Chaoquan, Ou; Yaohong, Long; Daren, Jiang; Jiying, Wang
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Kam People of China : Turning Nineteen
Geary, D. Norman (EDT); Geary, Ruth B.; Chaoquan, Ou; Yaohong, Long; Daren, Jiang; Jiying, Wang
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Gpu Solutions to Multi-scale Problems in Science and Engineering
Yuen, David A. (EDT); Wang, Long (EDT); Chi, Xuebin (EDT); Johnsson, Lennart (EDT); Ge, Wei (EDT)
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Yuen, David A. (EDT); Wang, Long (EDT); Chi, Xuebin (EDT); Johnsson, Lennart (EDT); Ge, Wei (EDT)
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Kam People of China : Turning Nineteen
Geary, D. Norman (EDT); Geary, Ruth B.; Chaoquan, Ou; Yaohong, Long; Daren, Jiang; Jiying, Wang
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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System Dependability and Analytics : Approaching System Dependability from Data, System and Analytics Perspectives
Wang, Long (EDT); Pattabiraman, Karthik (EDT); Di Martino, Catello (EDT); Athreya, Arjun (EDT); Bagchi, Saurabh (EDT)
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Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 79 di 90 - Springer Series in Reliability Engineering
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